Publications

LELOUP F., OBEIN G., POINTER M. et HANSELAER P., “Toward the soft metrology of surface gloss: A review”, Color Res. Appl., oct. 2013, DOI: 10.1002/col.21846.

OBATON A.-F., SANOGO Y., LAUTRU J., LIÈVRE M., DUROCHER J.-N. et DUBARD J., “Development of a new optical reference technique in the field of biology”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 62, 4, 2013, 837-844.

SANOGO Y. OBATON A.-F., DELEZOIDE C., LAUTRU J., LIEVRE M., DUBARD J., LEDOUX-RAK I. et NGUYEN C.T., “Phase sensitive-optical low coherence interferometer: A new protocol to evaluate the performance of optical micro-resonators”, Journal of Lightwave Technology, 31, 1, 111-117, DOI: 10.1109/JLT.2012.2225408.

Communications

DUBARD J. et ETIENNE R., “Monte-Carlo uncertainty evaluation of UV solar spectral irradiance measurements using array spectroradiometer”, 7th Workshop on Ultraviolet radiation measurements (UVNET), Davos, Suisse, 27–28 août 2013.

DUBARD J., VALIN T., ETIENNE R. et EBRARD G., “EMRP-ENV03: Traceability for surface spectral solar ultraviolet radiation”, 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201318001.

ETIENNE R. et DUBARD J., “EMRP-ENV04: Traceable radiometry for remote measurement of climate parameters”, 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201314009.

NONNE J., RENOUX D. et ROSSI L., « Metrologie pour les éclairages à état solide », 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201314004.

OUARETS S, LEROUX T., ROUGIE B., RAZET A. et OBEIN G., “A high resolution set up devoted to the measurement of the Bidirectional Reflectance Distribution Function around the specular peak, at LNE-CNAM”, 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201314008.