Abstract

Within the research project “surface activity analysis”, stretching over different metrological and technological topics, mass and nanotechnology for instance, improvements and adaptation have been carried out on different surface analysis devices in laboratories. The goal of this paper is to propose a review of the different developed devices, describing their main improvements for the past four years and to present the experimental results they produced.

Key words

mass metrology
nanodimentional metrology
surface characterization
sorption phenomena
roughness

Abstract

LNE is developing a MEtrological ChARacterization of Nanomaterials (CARMEN) platform to offer a complete supply of main parameter measurements characterizing a nano-object (size, shape, polydispersity, agglomeration/aggregation state, surface charges, specific charges. . . ). Other physical properties such local electrical measurements will be able to be performed on nanodevices. This platform aims to establish tracability routes, define measurement protocols and sampling methods. The uncertainties associated with measurements will offer to users an optimum confidence level. Instrumentation is put in a clean room within a controlled environment (temperature, humidity, vibration. . . ). Thanks to this platform, LNE will be able to help manufacturers and laboratories to meet to the governmental requests concerning the mandatory declaration of nanosubstances as described in the French decree number 2012-232, dated the 17th on February, 2012 (JORF number 0043 on 19th February 2012). Furthermore, this platform will make it possible to support the teams involved in the toxicological investigations linked to nanomaterials.

Key words

nanotechnology
metrology
toxicology
eco-toxicology
nanocaracterization platform
afm
mafm
sem

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2005

Publications

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Noise sensitivity of an atomic velocity sensor - theoretical and experimental treatment”, The European Physical Journal D, 33, 2, mai 2005, 173.

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “A promising method for the measurement of the local acceleration of gravity using Bloch oscillations of ultracold atoms in a vertical standing wave”, Europhysics Letters, 71, 5, septembre 2005, 730.

DU BURCK F., DAUSSY C., AMY-KLEIN A., GONCHAROV A. N., CHARDONNET C. et WALLERAND J.-P., “Frequency measuremnt of an Ar+ laser stabilized on narrow lines of molecular iodine at 501,7 nm”, IEEE transactions on instrumentationand measurement, 54, 2, avril 2005.

LAHOUSSE L., DAVID J., LELEU S., VAILLEAU G.-P. et DUCOURTIEUX S., « Application d’une nouvelle conception d’architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique », Revue française de métrologie, 4, Vol. 2005-4, 35-43.

Communications

ROVERA G. D. et WALLERAND J.-P., « Impulsions lumineuses ultra courtes pour la métrologie des fréquences », Images de la physique, Ed. du CNRS, 2005.

JUNCAR P., « Métrologie Laser », Séminaire invité au Laboratoire de Photonique et de Nanostructure (LPN), Marcoussis, France, 9 mars 2005.

GUELLATI-KHELIFA S., « Mesurer avec les atomes froids », Musée des Arts et Métiers, Paris, France, 17 avril 2005.

LAHOUSSE L., LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., DUHEM S., DAVID J., SALGADO J. et VAILLEAU G.-P., “The LNE’s nanometrology research and development program”, EUSPEN, 10 mai 2005, Conférence 5, 1, 131-134, Montpellier, France.

GUELLATI-KHELIFA S., CLADE P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms: a tool for h/mRb measurement”, European Quantum Electronics (EQEC'05), Munich, Allemagne, 12-17 juin, 2005.

CHASSAGNE L., TOPÇU S., ALAYLI Y., JUNCAR P., LERONDEL G., BLAIZE S., BRUYANT A., STEFANON I. et ROYER P., “Near field characterization of millimeter long wave guiding structures using a high accuracy optoelectronic control system holding the sample”, 17th International Conference on Photonics in Europe, SPIE, Optical Metrology, Munich, Allemagne, 13-17 juin 2005.

GUELLATI-KHÉLIFA S., CLADÉ P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms : a tool  for h/mRb measurement”, 17th International Conference on laser spectroscopy (ICOLS'05), Ecosse, 19-24 juin 2005.

GUELLATI-KHELIFA S., « Immobiliser les atomes pour mieux les interroger », Palais de la découverte, Paris, France, 22 novembre 2005.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2006

Publications

WALLERAND J.-P., ROBERTSSON L., MA L.-S. et ZUCCO M., “Absolute frequency measurement of molecular iodine lines at 514.7 nm, interrogated by a frequency-doubled Yb-doped fibre laser”, Metrologia, 43, 2006, 294-298.

Communications

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., LAHOUSSE L., DAVID J., SALGADO J. et VAILLEAU G.P., « Activités du Laboratoire national de métrologie et d’essais en nanométrologie dimensionnelle », XVIe salon international des microtechniques, Besançon, France, 26-29 septembre 2006.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2007

Publications

FUZESI F., JORNOD A., THOMANN P., PLIMMER M.D., DUDLE G., MOSER R., SACHE L. et BLEULER H., “An electrostatic glass actuator for ultrahigh vacuum: A rotating light trap for continuous beams of laser-cooled atoms”, Rev. Sci. Instrum., 78, 2007, 103109–1–103109–9.

SALGADO J., « Contrôle et étalonnage des cales étalons », Techniques de l'ingénieur, R 1245, à paraître.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “Watt-level single-frequency tunable Nd:YLF/periodically poled KTiOPO4 red laser”, Opt. Lett., Vol 32, No 18, 2732-2734, 2007.

ZONDY J.-J., BIELSA F., DOUILLET A., HILICO L., ACEF O., PETROF V., YELISSEVEV A., ISAENKO L. et KRINITSIN P., “Frequency doubling of CO2 laser radiation at 10.6 mm in the highly nonlinear chalcopyrite LiGaTe2”, Opt. Lett., 32, 12, 2007, 1722-4 17572759.

Communications

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., « Elaboration d’un laser rouge monomode réglablee en longueur d’onde, issu d’un doublage intracavité d’un laser Nd:YLF par un cristal de PPKTP », Journées scientifiques de l’ONERA, Clamart, France, 5-6 février 2007.

ZONDY J.-J. “Ternary Lithium Chalcogenides Compounds For Mid-Infrared Nonlinear Optics”, Journées scientifiques de l’ONERA, Clamart, France, 5-6 février 2007.

POYET B., DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F. et DAVID J., « Développement d’un AFM dont les mesures sont traçables au mètre-étalon », Forum microscopie en champ proche : 10ème forum des microscopies, Troyes, France, 26-29 mars 2007.

GUELLATI-KHELIFA S., « Manipulations d'atomes neutres par laser et Métrologie des constantes Fondamentales », 1er Congrès Nord-Sud de Physique, Conférence invitée, Société française de Physique et Université Mohamed, Faculté des sciences Oujda, Maroc, 9-13 avril 2007.

LAHOUSSE L., LELEU S. et DUCOURTIEUX S., « Conception et première évaluation d'une machine à mesurer XY à grandes courses et à incertitudes nanométriques », AIP primeca ; atelier inter-établissement de productique et pôle de ressources informatiques pour la mécanique, La Plagne, France, 18-20 avril 2007.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “Watt-level single-frequency tunable Nd:YLF/PPKTP red laser for silver atom cooling”, CLEO/QELS, Baltimore, Etats-Unis d’Amérique, 6-11 mai 2007.

DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F., LAHOUSSE L. et VAILLEAU G.P., « X and Y calibration of the LNE ultra precision coordinate measuring machine », 7th EUSPEN International Conference, Brême, Allemagne, 20-24 mai 2007.

LAHOUSSE L. et DUCOURTIEUX S., “Z calibration of the LNE ultra precision coordinate measuring machine”, 7th EUSPEN International Conference, Brême, Allemagne, 20-24 mai 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Precise determination of h/MRb using Bloch oscillations and atomic interferometry: a mean to deduce a fine structure constant”, Atomic Clocks and Fundamental Constants ACFC 2007, Allemagne, 4-7 juin 2007.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “Watt-level single-frequency tunable Nd:YLF/PPKTP red laser”, CLEO/Europe-IQEC 2007, Munich, Allemagne, 17-22 juin 2007.

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., LAHOUSSE L., LELEU S. et DAVID J. « Derniers résultats du programme de recherche et de développement du LNE en nanométrologie dimensionnelle », 13e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

VAILLEAU G.-P., « Développements récents et perspectives en métrologie dimensionnelle au LNE », 13e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWONB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Precise determination of h/mRb by using Bloch oscillation and atomic interferometry”, 8th International Conference on Laser Spectroscopy, Telluride, Colorado, Etats-Unis d’Amérique, 24-29 juin 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., « Détermination de la constante de structure fine à l'aide d'atomes froids », Congrès général de la Société Française de Physique, Grenoble, France, 9-13 juillet 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Accurate Quantum Metrology with cold atoms: determination of the fine structure constante”, QuAMP 2007, Conférence invitée, University College, Londres, Royaume-Uni, 10-13 septembre 2007.

GUELLATI-KHELIFA S., “Determination of the fine structure constant using Bloch oscillations in an optical lattice”, International School Quantum Metrology and Fundamental Constants, Conférence invitée, Les Houches, France, 1-12 octobre 2007.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “All-solid state, single-frequency tunable Nd:YLF/ppKTP red laser source for silver and calcium atom spectroscopy”, 6th Ibero-American Conference on Optics(RIAO), 9th Latin-American Meeting on Optics, Lasers and Applications (OPTILAS), Campinas, Sao Paulo, Brésil, 21-26 octobre 2007.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2008

Publications

MIMOUN E., DE SARLO L. ZONDY J.J., DALIBARD J. et GERBIER F., “Sum-frequency generation of 589 nm light with near-unit efficiency”, Optics Express, 16, 23, 2008, 18 684-18 691, 2008.

SALGADO J., « Contrôle et étalonnage des cales étalons », Techniques de l'Ingénieur, Mesures mécaniques et dimensionnelles, R 1 245v2, 2008.

SARROUF R., BADR T. et ZONDY J.J., “Intracavity second-harmonic generation of diode-pumped continuous-wave, single-frequency 1.3 μm Nd:YLiF4 lasers”, Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, 10, 2008.

Communications

LAHOUSSE L., BORIPATKOSO S., LELEU S., DAVID J., GIBARU O. COOREVITS T. et DUCOURTIEUX S., “LNE Actvities in Nanometrology: flatness reference calibration algorithm”, 8th EUSPEN International Conference, Zurich, Suisse, 18-22 mai 2008.

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S. et DAVID J., “Investigation and results on a new out-of-squareness calibration method for an ultra high precision measuring machine”, 8th EUSPEN International Conference, Zurich, Suisse, 18-22 mai 2008.

POYET B., DUCOURTIEUX S., DAVID J., LAHOUSSE L. et LELEU S., “Development of a new XY flexure translation stage with high guidance quality for the LNE metrological AFM”, 8th EUSPEN International conference, Zurich, Suisse, 18-22 mai 2008.

ZONDY J.J., SARROUF R., BADR T., SOUSA V. et XU G., “All-solid State, Single-frequency Tunable Nd:YLiF4/ppKTP Red Laser Source for Silver and Calcium Atom Spectroscopy”, 6th Ibero-American Conference on Optics (RIAO) 9th Latin-American Meeting on Optics, Lasers and Applications (OPTILAS), AIP Conference Proceedings, 992, mai 2008, 409-414.

WALLERAND J.-P., ABOU-ZEID A., BADR T., BALLING P., JOKELA J., KUGLER R., MATUS M., MERIMAA M., POUTANEN M., PRIETO E., VAN DEN BERG S. et ZUCCO M., Towards New Absolute Long Distance Measurement Systems in Air”, NCSL International 2008 Workshop & Symposium, Orlando, Floride, Etats-Unis d’Amérique, 3-7 août 2008.

SARROUF R., BADR T. et ZONDY J.J., “Performance of Tunable Single-frequency Nd:YLiF4 lasers with Intracavity SHG to 0.66 µm using pp-KTiOPO4, BiB3O6 and LiB3O5”, 3rd EPS-QEOD Europhoton 2008 conference on Solid State and Fiber Coherent Light Sources, Paris, France, 31 août-5 septembre 2008.

FOURATI N., SILVESTRI Z., NASRALLAH H., ZERRAD M., ZEROUKI C., DEFORNELL F., DEUMIÉ C., AMRA C., DUCOURTIEUX S., PINOT P. et MONNOY S., “Nanoroughness: towards the realization of standards with a continuum of spatial frequencies”, Nanoscale, Turin, Italie, 22-23 Septembre 2008.

MATUS M., PRIETO E., BALLING P., KRUGER O., PICOTTO G.B., DUCOURTIEUX S., MELI F., LASSILA A., PIREE H., FIRA R., JOHANSSON R. et YANDAYAN T., “Interferometric calibration of nanometric displacement actuators”, Nanoscale, Turin, Italie, 22-23 Septembre 2008.

POYET B., DUCOURTIEUX S., DAVID J., LAHOUSSE L. et LELEU S., “Development of a new high guidance quality XYZ flexure scanner for the LNE metrological AFM”, Nanoscale, Turin, Italie, 22-23 Septembre 2008.

POYET B., DUCOURTIEUX S., DAVID J., LAHOUSSE L. et LELEU S., “Development of the LNE metrological AFM”, Nanoscale, Turin, Italie, 22-23 septembre 2008.

POYET B., “AFM métrologique”, Salon Micronora, Besançon, France, 28 septembre 2008.

BORDE CH.J. et HIMBERT M., « Le mètre aujourd’hui : fondements scientifiques, technologiques et historiques », Journée du 25e anniversaire de la définition du mètre, BIPM, Sèvres, France, 17 novembre 2008.

CAMARGO F., SARROUF R., ZANON T., BADR T., WETTER N. et ZONDY J.J., « Lasers continus en anneau Nd:YLF et Nd:YVO4 doublés intra-cavité dans le rouge (650-670nm) », Journée Réseau MRCT-CNRS CMDO+(Cristaux Massifs, Micro-nanostructures et dispositifs pour l’Optique), IOGS-Polytechnique, Palaiseau, France, 24-25 novembre 2008.

ZONDY J.J., “High-power diode-pumped single-frequency Nd:YLF lasers with intracavity SHG to the red range”, IEEE Photonics Global @ Singapore 2008 conference, Singapour, Japon, 9-11 décembre 2008.

Patents

GERBIER F., MIMOUN E., DALIBARD J. et ZONDY J.J., « Dispositif optique de conversion de longueur d’onde, et source de lumière cohérente utilisant un tel dispositif », CNRS/LNE, Brevet INPI 0803153, 6 juin 2008.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2009

Publications

MARCHEV G., TYAZHEV A., VEDENYAPIN V., KOLKER D., YELISSEYEV A., LOBANOV S., ISAENKO L., ZONDY J.-J. et PETROV V., “Nd:YAG pumped nanosecond optical parametric oscillator based on LiInSe2 with tunability extending from 4.7 to 8.7 µm”, Optics Express, 17, 16, 2009, 13441-13446.

MIMOUN E., DE SARLO L., ZONDY J.-J., DALIBARD J. et GERBIER F., Experimental realization of a solid-state laser system for Sodium cooling”, Appl. Phys. B, en ligne en 2009 DOI : 10.1007/s00340-009-3844-x, à paraître en 2010.

POUSSET N., SALGADO J. et VAILLEAU G.P., « Étalonnage de micromètres objets par microscopie optique », Revue française de métrologie, 18, 2009, 3-11.

STONE J.A., DECKER J.E., GILL P., JUNCAR P., LEWIS A., ROVERA G.D. et WILLIESID M., “Advice from CCL on the use of unstabilized lasers as standards of wavelength: The helium Neon laser at 633 nm”, Metrologia, 46, 1, 2009, 11-18.

Communications

XU S., CHASSAGNE L., TOPÇU S., ALAYLI Y. et JUNCAR P., “Polarimetric Michelson interferometer for sub-nanometric scale positioning control”, IEEE Eurocon 2009 Conference, ISBN 978 1-4244-3861-7/09, 2029-2033, Saint-Pétersbourg, Russie, 18-23 mai 2009.

CAMARGO F., ZANON-WILLETTE T., BADR T., WETTER N.U. et ZONDY J.-J., “620 mW single-frequency Nd:YVO4/BiB3O6 red laser”, Conference on lasers and electro-optics (CLEO) 2009, paper CTuR4, Technical digest (CD), Optical society of America, Baltimore, États-Unis d’Amérique, 31 mai 2009.

CAMARGO F., ZANON-WILLETTE T., SARROUF R., BADR T., WETTER N.U. et ZONDY J.-J., “1.3 watt single-frequency Nd:YLF/ppKTP red laser”, Conference on lasers and electro-optics (CLEO) 2009, paper CThZ7, Optical society of America, Baltimore, États-Unis d’Amérique, 31 mai 2009.

DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F., LAHOUSSE L., LELEU S., DAVID J. et VAILLEAU G.-P., LNE ultra precision coordinate mesuring machine: calibration results of the XY metrology loop”, 9th International conference EUSPEN, San Sebastian, Espagne, 2-5 juin 2009.

POYET B., DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F., DAVID J., LAHOUSSE L. et LELEU S., Design of the LNE metrological AFM”, 9th International conference EUSPEN, San Sebastian, 2-5 juin 2009.

VAILLEAU G.-P. et SALGADO J., « Évolution de la métrologie dimensionnelle au LNE en réponse aux besoins de l’industrie », 14e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

WALLERAND J.-P., “Towards new systems of long distance measurement in air”, 14e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

HIMBERT M., « Nanométrologie », Journées franco-tunisiennes sur les nanotechnologies, Tunis, Tunisie, juillet 2009.

RIHAN A., ANDRIEUX E., ZANON-WILLETTE T., BRIAUDEAU S., HIMBERT M. et ZONDY J.-J., “A Ti:Sapphire pump-resonant singly-resonant OPO for spectroscopic breath analysis”, Field laser application in industry and research conference (FLAIR 2009), Grainau, Allemagne, 6-11 septembre 2009.

COUTURAUD O., DUCOURTIEUX S., CHIVAS C. et POYET B., « Microscopie champs proche au LNE », Nano-objets pour l'imagerie du vivant, Cachan, France, 24-25 septembre 2009.

CAMARGO F., ZANON-WILLETTE T., BADR T., WETTER N.U. et ZONDY J.-J., “Optimally-coupled and mode-synchronized intracavity frequency doubled cw Nd :YLF ring laser”, 1st EOS topical meeting on lasers, Capri, Italie, 27-30 septembre 2009.

BADR T., “Non polarizing synthetic wavelength interferometry”, 2nd workshop on long distance measurements, Delft, Pays-Bas, 2 octobre 2009.

ZONDY J.-J., “Advanced nonlinear sources for sensitive gas detection”, CNR-Istituto nazionale di ottica applicata (INOA-CNR), Pouzzoles, Italie, 2 octobre 2009.

DUCOURTIEUX S. et COUTURAUD O., “Exfoliated graphene-on-silicon oxyde application”, Surface newsletter (Digital surf), décembre 2009.

Patents

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Precision positioning device, LNE, Brevet 4384-000117/US, 30 avril 2009.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2010

Publications

AZOUIGUI S., BADR T., WALLERAND J.-P., HIMBERT M., SALGADO J. et JUNCAR P., “Transportable distance measurement system based on superheterodyne interferometry using two phase-locked frequency-doubled Nd:YAG lasers”, Rev. Sci. Instrum., 81, 2010, 053112, DOI: 10.1063/1.3428729.

VAILLEAU G.-P., « La métrologie des angles », Techniques de l'Ingénieur, R 1 300v2, 2010.

Communications

FELTIN N., « La nanométrologie au LNE : – Élaboration de nouveaux étalons primaires à partir de nanostructures – Développement d'une métrologie au service des nanotechnologies », Journée technique du LNE, Paris, France, 4 mars 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Advances in the development of the LNE mAFM”, SPIE Photonics Europe International Symposium, Bruxelles, Belgique, 12-16 avril 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., « Développement d'un AFM métrologique minimisant l'erreur d'Abbe », CAFMET 2010 3d International Metrology Conference, Le Caire, Egypte, 19-23 avril 2010.

DUCOURTIEUX S. et POYET B., « Développement d’un AFM métrologique », Colloque LNE, Figeac, France, 22 avril 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Advances in the development of the LNE mAFM”, Euspen 10th International Conference and Exhibition, Delft, Pays Bas, 29 mai - 4 juin 2010.

AZOUIGUI S., BADR T., WALLERAND J.-P., HIMBERT M., SALGADO J. et JUNCAR P., “Transportable Distance Measurement System for Long Range Applications”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010

BADR T., AZOUIGUI S., WALLERAND J.-P. et JUNCAR P., “Absolute Refractometry Using Helium”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Recent advances in the development of the LNE Metrological Atomic Force Microscope”, Nanoscale 2010, Brno, République Tchèque, 27-29 octobre 2010.

Patents

DAVID J.-M., NOUIRA H. et VAILLEAU G.-P., « Dispositif et procédé de mesure de caracteristiques geometriques », LNE, demande n° 1057394, dépôt le 16 septembre 2010.

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2011

Publications

ANDRIEUX E., RIHAN A., ZANON-WILLETTE T., CADORET M. et ZONDY J.-J., “500 GHz continuous mode-hop-free idler tuning range with a frequency-stabilized singly-resonant mid-IR optical parametric oscillator”, Opt. Lett., 36, 2011, 1212-1214 ; duplicated in Vitual Journal of Biomedical Optics, 6, 5, 2011.

AZOUIGUI S., BADR T., WALLERAND J.-P., HIMBERT M., SALGADO J-A., SENELAER J.-P., KWASNIK F. et JUNCAR P., “Transportable distance measurement system for long-range applications”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 60, 7, 2011.

BOURCET A., FELTIN N., FRAMERY S., HARMAND M.F., POUPON J., VAYSSADE M. et VILLIER S., « Rapport NanoDM : Evaluation biologique des dispositifs médicaux contenant des nanomatériaux », Recommandations AFFSAPS, Réf. DTABAB101115931, février 2011.

DUCOURTIEUX S. et POYET B., “Development of a metrological atomic force microscope with minimized Abbe error and differential interferometer realtime position control”, Meas. Sci.. Technol., 22, 9, 2011, DOI: 10.1088/0957-0233/22/9/094010.

FELTIN N., POYET B. et DUCOURTIEUX S., « Nanométrologie : la science de la mesure à l’échelle du nanomètre », Matériaux et techniques, 6-7, 2010, 378-383.

MOTKUS C., CHIVAS-JOLY C., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D. et MACÉ T., “Characterization of airborne particles released by the combustion of Nanocomposites”, Nanotechnology 2011: Advanced Materials, CNTs, Particles, Films and Composites, Chapter 5: Composite Materials, 1, ISBN 978-1-4398-7142-3, 491-494.

MOTZKUS CH., CHIVAS-JOLY C., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D. et MACE T., Study on the aerosol emitted by the combustion of polymers containing nanofillers, Journal of Physics: Conference Series, 340, 2011, DOI: 10.1088/1742-6596/304/1/012020.

MOTZKUS CH., GENSDARMES F. et GEHIN E., Study of the coalescence/splash threshold of droplet impact on liquid films and its relevance in assessing airborne particle release, J. Colloid Interface Sc., 362, 2011, 540-552, DOI: 10.1016/j.jcis.2011.06.031.

RIHAN A., ANDRIEUX E., ZANON-WILLETTE T., BRIAUDEAU S., HIMBERT M. et ZONDY J.-J., “A pump-resonant signalresonant optical parametric oscillator for spectroscopic breath analysis”, Appl. Phys. B, 102, 2011, 367-374, DOI: 10.1007/s00340-010-3996-8.

Communications

MOTZKUS CH., MACE T. et VASLIN-REIMANN S., « Etude de la mise en suspension de nanoparticules manufacturées de TiO2 à partir du disperseur de poudre Naneum Aerosoliser », Congrès français sur les aérosols, Paris, France, 25-26 janvier 2011.

MOTZKUS CH., MACE T., VASLIN-REIMANN S., SOUKIASSIAN  L., DUCOURTIEUX S., MICHIELSEN N., GENSDARMES F., SILLON P., AUSSET P. et MAILLÉ M., « Travaux prénormatifs sur la caractérisation des nanoparticules dans l’air : qualification d’un protocole de generation d’un aérosol nanométrique de SiO2 », Congrès français sur les aérosols, Paris, France, 25-26 janvier 2011.

DUCOURTIEUX S., POYET B. et FELTIN N., The LNE metrological atomic force microscope, Workshop international sur les microscopes à force atomique métrologiques, Trappes, France, 7-9 février 2011.

FELTIN N., POYET B. et DUCOURTIEUX S., LNE’s CARMEN Platform, Workshop international sur les microscopes à force atomique métrologiques, Trappes, France, 7-9 février 2011.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., The LNE metrological AFM – the translation stage, Workshop International sur les microscopes à force atomique métrologiques, Trappes, France, 7-9 février 2011.

MOTZKUS CH., MACÉ T., VASLIN-REIMANN S., MICHIELSEN N., GENSDARMES F., SILLON P., AUSSET P. et MAILLÉ M., “Prestandardization study on the characterization of airborne nanoparticules size: qualification of a generation protocol for nanometer aerosols of SiO2”, Risk associated with nanoparticules and nanomaterials of INRS occupational health research conference 2011, Nancy, France, 5-7 avril 2011.

ANDRIEUX E., RIHAN A., ZANON-WILLETTE T., CADORET M. et ZONDY J.-J., “Enhanced Mode-hop-free Idler Tuning Range with Frequency Stabilization of a Signal Resonant Optical Parametric Oscillator”, Advanced Solid-State Photonics (ASSP 2011), Istanbul, Turquie, 13-18 février 2011.

ZONDY J.-J., PETROV V., ISAENKO L. et BIDAULT O., “Optical, thermal, electrical, damage, and phase-matching properties of lithium selenoindate”, Advances In Optical Materials (AIOM 2011), collocated with ASSP 2011, Istanbul, Turquie, 16-18 février 2011.

NOUIRA H., VISSIRE A., VAILLEAU G.-P., DAMAK M. et DAVID J.M., “Evaluation of the capacitive displacement measurements in mechanical metrology with cylindrical artefacts”, 13th international conference on metrology and properties of engineering surfaces, Twickenham Stadium, Royaume-Uni, 12-15 avril 2011.

VISSIERE A., NOUIRA H., DAMAK M., GIBARU O., LELEU S. et DAVID J.-M., “Experimental evaluation of the dissociated metrological technique (DMT) for the geometrical measurement in metrological applications”, 13th international conference on metrology and properties of engineering surfaces, Twickenham Stadium, Royaume-Uni, 12-15 avril 2011.

Vissiere A., Nouira H., Vailleau G.-P., Damak M., David J.-M. et GIBARU O., “Evaluation of the capacitive displacement measurements in mechanical metrology”, Euspen, Lac de Come, Italie, 23-27 mai 2011.

AZOUIGUI S., Workshop EMRP « JRP long distanc », Prague République tchèque, 27 mai 2011

MOTZKUS CH., CHIVAS-JOLY C., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D. et MACE T., “Characterization of airborne particles released by the combustion of nanocomposites”, Nanotech 2011 Conference, Boston, Etats-Unis d’Amérique, 13-16 juin 2011.

WALLERAND J.-P., Journée « Optique et micro-ondes » de la Société Française d’Optique, Rennes, France, 23 juin 2011.

MOTZKUS CH., IDRAC J., MACE T., VASLIN-REIMANN S., AUSSET P. et MAILLE M., “Physico-chemical characterization of manufactured TiO2 nanoparticles”, 5th International Symposium on Nanotechnology, Occupational and Environmental Health, Boston, Etats-Unis d’Amérique, 9-12 août 2011.

DE ROSA M., RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., ZONDY J.-J. et DE NATALE P., “An optical parametric oscillator for high resolution spectroscopy”, 22nd Colloquium on High Resolution Molecular Spectroscopy, Dijon, France, 29 août-2 septembre 2011.

MOTKUS CH., CHIVAS-JOLY C., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D., MACE T., OUF F.-X. et GENSDARMES F., “Count size distribution of the aerosol emitted by the combustion of nanocomposites”, European Aerosol Conference, Manchester, Royaume-Uni, 5-9 septembre 2011.

BADR T., «Mesures de haute precision pour des objets de grandes dimensions », 15e Congrès international de métrologie, Paris, France, 3-6 octobre 2011.

MOTZKUS CH., MACE T., VASLIN-REIMANN S., IDRAC J., AUSSET P. et MAILLÉ M., Metrological characterization of manufactured titanium dioxide nanoparticles, 15e Congrès international de métrologie, Paris, France, 3-6 octobre 2011.

VISSIERE A., NOUIRA H., DAMAK M., DAVID J.-M., VAILLEAU G.-P. et GIBARU O., “Cylindrical measurement with nanometric level of accuracy”, 15e Congrès international de métrologie, Paris, France, 3-6 octobre 2011.

AZOUIGUI S., AZOUIGUI S., BADR T., HIMBERT M. et JUNCAR P., “Synthetic wavelength based transportable telemeter with submicron resolution”, Conference MacroScale 2011, Bern, Suisse, 4-6 octobre 2011.

NOUIRA H, “Cylindrical measurement with nanometric-level of accuracy: numerical comparison between the standard and the modified of both multi-step and reversal methods”, Conference MacroScale 2011, Bern, Suisse, 4-6 octobre 2011.

NOUIRA H, “Development of a new apparatus for cylindrical form measurement with nanometric-level of accuracy”, Conference MacroScale 2011, Bern, Suisse, 4-6 octobre 2011.

WALLERAND J.-P., “Synthetic wavelength based transportable telemeter with submicron resolution”, Conference MacroScale 2011, Bern, Suisse, 4-6 octobre 2011.

DUCOURTIEUX S., « AFM métrologique, au service de la nanometrologie dimensionnelle », Journée d’Inauguration du Club Nanométrologie, Paris, France, 6 octobre 2011.

BADR T., « Réfractométrie Absolue basée sur l’hélium »,  Workshop », Journées de la télémétrie laser (JTL-2011), Observatoire de la Côte d’Azur, France, 20-21 octobre 2011.

WALLERAND J.-P., « Mesures hectométriques par interférométrie à longueur d’onde synthétique », Journées de la télémétrie laser (JTL-2011), Observatoire de la Côte d’Azur, 20–21 octobre 2011

Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2012

Publications

CHIVAS-JOLY C., MOTZKUS CH., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D., LOPEZ-CUESTA J.-M., LONGUET C., SONNIER R. et MINISINI B., “Influence of carbon nanotubes on fire behaviour and aerosol emitted during combustion of thermoplastics”, Fire and Materials, 2012, DOI: 10.1002/fam.2161.

MALAK M., OBATON A.-F., MARTY F., PAVY N., DIDELON S., BASSET P. et BOUROUINA T., “Analysis of micromachined Fabry-Perot cavities using phase-sensitive optical low coherence interferometry: Insight on dimensional measurements of dielectric layers”, AIP Advances, 2, 2012, 022143.

MOTZKUS CH., CHIVAS-JOLY C., GUILLAUME E., DUCOURTIEUX S., SARAGOZA L., LESENECHAL D., MACÉ T., LOPEZ-CUESTA J.-M. et LONGUET C., “Aerosols emitted by the combustion of polymers containing nanoparticles”, Journal of Nanoparticles Research, 14, 3, 2012, 1-17, DOI: 10.1007/s11051-011-0687-2.

MOTZKUS CH., MACE T., VASLIN-REIMANN S., SOUKIASSIAN L., DUCOURTIEUX S., MICHIELSEN N., GENSDARMES F., SILLON P., AUSSET P. et MAILLE M., « Qualification d’un protocole de génération d’un aérosol nanométrique de SiO2 », Revue française de métrologie, 29, 2012, 31-37, DOI: 10.1051/rfm/2012002.

NOUIRA H., VISSIÈRE A., DAMAK M. et DAVID J.-M., “Investigation of the influence of the main error sources on the capacitive displacement measurements with cylindrical artefacts”, Precision Engin. and Nanotechnology, 2012, 37, 3.

RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., ZONDY J.-J., DE ROSA M. et DE NATALE P., “A frequency-comb-referenced singly-resonant OPO for sub-Doppler spectroscopy”, Opt. Express, 20, 8, 2012, 9178-9186.

RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., ZONDY J.-J., DE ROSA M. et DE NATALE P., “A singly-resonant optical parametric oscillator for mid-infrared high-resolution spectroscopy”, Molecular Physics, 2012, 107, 17, 2103-2109.

VISSIÈRE A, NOUIRA H., DAMAK M., GIBARU O. et DAVID J.-M., “A newly Conceived Cylinder Measuring Machine: comparison between both standard and modified multi-step and reversal methods”, Measurement Science and Technology, 23, 9, DOI: 10.1088/0957-0233/23/9/094015.

VISSIÈRE A., NOUIRA H., DAMAK M., GIBARU O. et DAVID J.-M., “Concept and architecture of a new apparatus for cylindrical form measurement with a nonometric level of accuracy” Measurement Science and Technology, 2012, 23, 9, DOI: 10.1088/0957-0233/23/9/094014.

Communications

MALAK M., MARTY F., NOUIRA H., SALGADO J. et BOUROUINA T., “A silicon interferometric optical probe for noncontact dimensional measurements in confined environment”, IEEE 25th International Conference on MEMS, Paris, France, 29 janv.–2 févr. 2012.

BOUKELLAL Y., POYET B. et DUCOURTIEUX S., « Présentation du microscope à force atomique métrologique du LNE », Forum de microscopie à sonde locale, Saint-Jacut-de-la-Mer, France, 12–16 mars 2012.

DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., POYET B. et BOUKELLAL Y., « Mesure traçable de la taille de nanoparticules par microscopie à force atomique », Forum de microscopie à sonde locale, Saint-Jacut-de-la-Mer, France, 12–16 mars 2012.

FELTIN N., « Le Club nanoMétrologie », Forum de microscopie à sonde locale, Saint-Jacut-de-la-Mer, France, 12–16 mars 2012.

POYET B., DUCOURTIEUX S. et BOUKELLAL Y., « Raccordement au SI des mesures dimensionnelles à l’échelle du nanomètre – l’AFM métrologique du LNE », Forum de microscopie à sonde locale, Saint-Jacut-de-la-Mer, France, 12–16 mars 2012.

RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., ZONDY J.-J, DE ROSA M. et DE NATALE P., “A narrow-linewidth, frequency-stabilized OPO for sub-Doppler molecular spectroscopy around 3.3 microns”, SPIE conference – Nonlinear Optics and its Applications, 8434, Bruxelles, Belgique, 16–19 avril 2012.

VASLIN-REIMANN S., MOTZKUS C. et MACÉ T., “Size characterizing of airborne spherical SiO2 nanoparticles by on-line and off-line techniques”, VAMAS 37th Steering Committee Meeting, Pretoria, Afrique du Sud, 7–9 mai 2012.

RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., DE ROSA M., DE NATALE P. et ZONDY J.-J., “A frequency-comb-referenced singly-resonant OPO for sub-Doppler spectroscopy”, 14th Convegno Nazionale delle Tecnologie Fotoniche (FOTONICA 2012), Florence, Italie, 15–17 mai 2012.

BOUDERBALA K., VIDECOQ E., GIRAULT M., NOUIRA H., SALGADO J. et PETIT D., « Régulation en température d'un appareil de mesure dimensionnel : contrôle MPC et LQG par modèle réduit », Société Française de Thermique, Bordeaux, France, 29 mai–1er juin 2012.

BOUKELLAL Y., « Les développements récents de l’AFM métrologique », Doctoriales du LNE, Paris, France, 6 juill. 2012.

HODOROABA V.-D., BENEMANN S., MOTZKUS C., MACE T., PALMAS P. et VASLIN-REIMANN S., “Advanced analysis of spherical SiO2 aerosol nanoparticles with a high-resolution SEM”, Microscopy & Microanalysis 2012 Conference, Phoenix, États-Unis d’Amérique, 29 juill.–2 août 2012.

MALAK M., MARTY F., NOUIRA H., SALGADO J. et BOUROUINA T., “Optical profiling using a miniature Michelson interferometer as an optical probe”, Optical MEMS IEEE, Banff, Canada, 6–9 août 2012.

NOUIRA H., “Metrological characterization of the main error sources of optical confocal sensors measurement”, 62nd CIRP General Assembly, Hong Kong, Chine, 19–25 août 2012.

RICCIARDI I., DE TOMMASI E., MADDALONI P., MOSCA S., ROCCO A., ZONDY J.-J., DE ROSA M. et DE NATALE P., “A frequency-comb-referenced OPO for high-resolution spectroscopy around 3 microns”, 5th EPS-QEOD Europhoton conference “Solid State, Fibre, and Waveguide Coherent Light Sources”, Stockholm, Suède, 26–31 août 2012.

TYAZHEV A., VEDENYAPIN V., MARCHEV G., YELISSEYEV A., ISAENKO L., KOLKER D., STARIKOVA M., LOBANOV S., PETROV V. et ZONDY J.-J., “Singly-resonant LiGaS2 mid-IR optical parametric oscillator”, 5th EPS-QEOD Europhoton conference “Solid State, Fibre, and Waveguide Coherent Light Sources”, Stockholm, Suède, 26–31 août 2012.

BOUKELLAL Y., « Développement d’une tête AFM et caractérisation de l’instrument », Rencontres pour l’emploi des docteurs de l’ENS Cachan, Cachan, France, 18 octobre 2012.

COQUELIN L. et MOTZKUS C., “Aerosol size distribution estimation and associated uncertainty for measurement with a SMPS”, Nanosafe 2012 Conference, Grenoble, France, 13–15 novembre 2012.

MOTZKUS C., “Characterization of manufactured TiO2 nanoparticles”, Nanosafe 2012 Conference, Grenoble, France, 13–15 novembre 2012.

FAVRE G., « Les enjeux en nanométrologie », Colloque G3N, Paris, France, 23 novembre 2012.

BOUKELLAL Y., “Development of a metrological Atomic Force Microscope for dimensional nanometrology applications”, 15th Technical and Scientific Meeting of ARCIS, Gardanne, France, 28–29 novembre 2012.

ZONDY J.-J., “Widely tunable, narrow linewidth CW single-frequency optical parametric oscillators for mid-IR molecular spectroscopy and trace molecular detection”, Breath Analysis Meeting, Workshop organized by UC-Davis, Sonoma, Californie, Etats-Unis, 28 oct.–1er nov. 2012.

EL-HAYEK N., NOUIRA H., ANWER N., DAMAK M. et GIBARU O., “Comparison of free-form surface reconstruction algorithms from unstructured point sets”, Topical Meeting of the European Society for Precision Engineering & Nanotechnology (EUSPEN) on Structured and Freeform Surfaces, Teddington, Royaume-Uni, 5–6 décembre 2012.