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DUCOURTIEUX S., « Derniers développements du microscope à force atomique métrologique du LNE », 17^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

OBATON A.-F., “Additive manufacturing and control needs”, 17^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

FELTIN N., « La métrologie au service de l’évaluation des risques nano : vers une meilleure fiabilité des mesures », Ecole de Giens, INERIS, France, novembre 2015.

SALGADO J., “Data fusion for high precision metrology: a novel fine registration technique”, EUSPEN Micro/Nano Manufac-turing Workshop 2015, Teddington, Royaume Uni, 24-26 novembre 2015.

Within the research project “surface activity analysis”, stretching over different metrological and technological topics, mass and nanotechnology for instance, improvements and adaptation have been carried out on different surface analysis devices in laboratories. The goal of this paper is to propose a review of the different developed devices, describing their main improvements for the past four years and to present the experimental results they produced.

LNE is developing a MEtrological ChARacterization of Nanomaterials (CARMEN) platform to offer a complete supply of main parameter measurements characterizing a nano-object (size, shape, polydispersity, agglomeration/aggregation state, surface charges, specific charges. . . ). Other physical properties such local electrical measurements will be able to be performed on nanodevices. This platform aims to establish tracability routes, define measurement protocols and sampling methods. The uncertainties associated with measurements will offer to users an optimum confidence level. Instrumentation is put in a clean room within a controlled environment (temperature, humidity, vibration. . . ). Thanks to this platform, LNE will be able to help manufacturers and laboratories to meet to the governmental requests concerning the mandatory declaration of nanosubstances as described in the French decree number 2012-232, dated the 17th on February, 2012 (JORF number 0043 on 19th February 2012). Furthermore, this platform will make it possible to support the teams involved in the toxicological investigations linked to nanomaterials.

Energy- and intensity-tunable monochromatic X-ray sources enable new developments in X-ray metrology. The fundamental parameters characterizing photon-matter interactions can be determined with relative standard uncertainties around 1–2%. The characteristics of the SOLEX laboratory source and of the SOLEIL synchrotron radiation source are discussed. The procedures for measuring mass attenuation coefficients and fluorescence yields are detailed; examples are presented for copper, cadmium and germanium. These new sources with associated instrumentation will allow developing improved techniques for reference-free quantification by X-ray fluorescence.

This paper describes a transportable system based on synthetic wavelength interferometry for absolute distance measurement. The synthetic wavelength is generated by means of two frequency-doubled Nd:YAG lasers. A superheterodyne technique has been implemented to detect the synthetic phase, enabling a fringe interpolation of ∼2π/5 600. A ∼5 μm accuracy (1σ) is demonstrated over 25 m, based on an indoor comparison with a classical fringe counting interferometer. An outdoor comparison has been carried out on a 864 m-long standard baseline located in Finland (Nummela), yielding an uncertainty of 700 μm (1σ). This work was carried out within the framework of the “Long distance” EMRP project that ended on June 2011.

This article is a review about “additive manufacturing”, popularized under “3D printing”, and takes an inventory of the tests and metrological needs that the technology generates. It defines additive manufacturing and presents the materials used, the significance and the brakes of the technology, and application areas. It also lists and describes in detail the principle of the seven categories of processes that the technology counts.