Publications and communications in the field of "Electricity - Magnetism" by authors of the French metrology network in 2015

Publications

ALLAL D., « Dosimétrie radiofréquence (DAS/SAR) », Techniques de l’ingénieur, R1138, 2015.

CHARLES M., LITWIN A. et ALLAL D., « Étalon de puissance électrique en technologie à thermocouples pour les fréquences RF jusqu'à 50 GHz », Revue française de métrologie, 39, 2015, 29-33, DOI: 10.1051/rfm/2015013.

DRUNG D., KRAUSE C., GIBLIN S.P., DJORDJEVIC S., PIQUEMAL F., SERON O., RENGNEZ F., GÖTZ M., PESEL E. et SCHERER H., Validation of the ultrastable low-noise current amplifier as travelling standard for small direct currents, Metro-logia, 52, 2015, 756-763, DOI: 10.1088/0026-1394/52/6/756.

ISTRATE D., FORTUNE D., POREE A. et BLANC I., « Traçabilité de mesure des impulsions de courant électrique jusqu’à 50 kA », Revue française de métrologie, 39, 2015, 15-28, DOI: 10.1051/rfm/2015011.

KHAN M.S., POLETAEFF A. et NDILIMABAKA H., « Caractérisation des références électriques de transposition alternatif-continu en basse tension entre 10 Hz et 1 MHz au LNE », Revue française de métrologie, 38, 2015, 19-23, DOI: 10.1051/rfm/2015007.

LAFONT F., RIBEIRO-PALAU R., KAZAZIS D., MICHON A., COUTURAUD O., CONSEJO C., CHASSAGNE T., ZIELINSKI M., PORTAIL M., JOUAULT B., SCHOPFER F. et POIRIER W., Quantum Hall resistance standards from graphene grown by chemical vapour deposition on silicon carbide, Nature Communications, 6, 6806, 20 avril 2015, DOI: 10.1038/ncomms7806.

NDIAYE O., CHARLES M., ALLAL D. et BOCQUET B., « Caractérisation électromagnétique large bande de PZT en couche mince aux fréquences micro-ondes », Revue française de métrologie, 40, 2015, 33-39, DOI: 10.1051/rfm/2015017.

NDILIMABAKA H., « Réseaux électriques intelligents : défis technologiques et moyens de mesure », Techniques de l’ingénieur, R940, 2015.

RIBEIRO-PALAU R., LAFONT F., BRUN-PICARD J., KAZAZIS D., MICHON A., CHEYNIS F., COUTURAUD O., CONSEJO C., JOUAULT B., POIRIER W. et SCHOPFER F., Quantum Hall resistance standard in graphene devices under relaxed experimental conditions, Nature Nanotechnology, 10, 965-974, 7 septembre 2015, DOI: 10.1038/nnano.2015.192.

Communications

PIQUEMAL F., GOURNAY P. et THEVENOT O., Electrical determinations of the fine structure constant and impact on the SI”, Fundamental constants Meeting 2015 (IUPAP, Codata), Elteville, Allemagne, 1-6 février 2015.

RIBEIRO-PALAU R., LAFONT F., KAZAZIS D., MICHON A., COUTURAUD O., CONSEJO C., JOUAULT B., POIRIER W. et SCHOPFER F., Graphene-based quantum Hall resistance standard grown by chemical vapor deposition on silicon carbide”, APS March Meeting, San Antonio, Etats-Unis, 2-6 mars 2015.

PIQUEMAL F., Electrical determinations of the fine structure constant: impact for the SI”, Euramet Workshop on Calculable capacitors and AC impedance bridges, LNE, Paris, France, 4-5 mars 2015.

PIQUEMAL F., Metrology for nanoscale electrical measurements”, CCEM WGLF Meeting, BIPM, Sèvres, France, 11 mars 2015.

SCHOPFER F., RIBEIRO-PALAU R., LAFONT F., LEPRAT D., KAZAZIS D., MICHON A., COUTURAUD O., CONSEJO C. et JOUAULT B., Advances in user-friendly quantum Hall resistance standards based on graphene”, 29th meeting CCEM, BIPM, Sèvres, France, 12 mars 2015.

POIRIER W., LAFONT F., RIBEIRO-PALAU R., KAZAZIS D., MICHON A., JOUAULT B., COUTURAUD O., CONSEJO C., ZIELINSKI M., CHASSAGNE T. et SCHOPFER F., User-friendly graphene-based quantum resistance standards”, Graphene 2015, Bilbao, Espagne, 10-13 mars 2015.

RIBEIRO-PALAU R., Graphene-based quantum Hall resistance standards grown by CVD”, NIST, Gaithersburg, MD, États-Unis, mars 2015.

RIBEIRO-PALAU R.,Graphene-based quantum Hall resistance standards grown by CVD”, NIST, Boulder, CO, États-Unis, mars 2015.

ALLAL D. et ZIADÉ F., Adapter and method for improving the LISN input impedance measurement accuracy and traceability”, Euramet TC-EM SC RF&MW Experts meeting, Istanbul, Turquie, 14-15 avril 2015.

DELVALLÉE A., LOUARN K., ALMUNEAU G., LEPRINCE Y. et BOUNOUH A., Scanning microwave microscopy characterization of multi-junction solar cell (MJSC)”, Nanomeasure2015, Barcelone, Espagne, 15-16 avril 2015.

ZIADÉ F., 4TP impedance measurements up to 10 MHz”, Euramet TC-EM SC-LF Experts meeting, Boras, Suède, 21-22 mai 2015.

RIBEIRO-PALAU R., “CVD Graphene for quantum metrology”, School for advanced sciences of Luchon, Quantum transport in 2D systems, Session Workshop II (W2), 23-30 mai 2015.

POIRIER W., Graphene surpasses GaAs/AlGaAs heterostructures for the quantum Hall resistance metrology”, DC & Quantum Metrology Expert MeetingTCEM Euramet, Bern, Suisse, 27-29 mai 2015.

ALLAL D. et CHARLES M., Reference materials for spectrometer verification”, Final THzSecurity project Workshop, PMOD, Davos, Suisse, 29 mai 2015.

ALLAL D. et CHARLES M., Development of skin phantoms”, Final THzSecurity project Workshop, PMOD, Davos, Suisse, 29 mai 2015.

KAZEMIPOUR A., CHARLES M., ALLAL D., BORSERO M., ZILBERTI L., BOTTAUSCIO O., CHIAMPI M., KLEINE-OSTMANN T. et SCHRADER T., Skin model verification with thermal imaging”, Final THzSecurity project Workshop, PMOD, Davos, Suisse, 29 mai 2015.

ALLAL D. et HALL B., Propagation of calibration standards uncertainties through TRL procedure”, 4th European ANAMET Meeting, Metas, Bern-Wabern, Suisse, 3 juin 2015.

RIBEIRO-PALAU R., LAFONT F., BRUN-PICARD J., KAZAZIS D., MICHON A., CHEYNIS F., COUTURAUD O., CONSEJO C., JOUAULT B., POIRIER W. et SCHOPFER F., Graphene surpasses GaAs/AlGaAs for the application of the quantum Hall effect in metrology”, Graphene Week 2015, Manchester, Royaume-Uni, 22-26 juin 2015.

RIBEIRO-PALAU R., LAFONT F., KAZAZIS D., MICHON A., COUTURAUD O., CONSEJO C., JOUAULT B., POIRIER W. et SCHOPFER F., Graphene sets a convenient quantum Hall resistance standard and supports the new SI, 21st International Conference on Electronic Properties of Two-Dimensional Systems (EP2DS-21), Sendai, Japon, 26-30 juillet 2015.

ZIADÉ F., KOKALJ M., OUAMEUR M., PINTER B. , BÉLIÈRES D., POLÉTAEFF A. et ALLAL D., Adapter and method for improving the LISN input impedance measurement accuracy”, EMC Europe, Dresden, Allemagne, 16-22 août 2015.

SALTER M., RIDLER N., ALLAL D., ZIADÉ F., HUDLICKA M. et PAVLICEK T., A reference printed circuit board (PCB) for validating microwave measurements on PCBs and a differential calibration kit for traceable measurements”, 45th European Microwave Conference (EuMC 2015), Paris, France, 6-11 septembre 2015.

LOUARN K., BOUNOUH A., FONTAINE C., OLIVIÉ F., LIBAUDE G., PIQUEMAL F., DELVALLEE A. et ALMUNEAU G., III-V based Tunnel Heterojunction for Multijunctions Solar Cells”, Pulse School 2015, Porquerolles, France, 14-18 septembre 2015.

AGAZAR M., « Mesure des hautes tensions par la technique d'échantillonnage », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/201510002.

ALLAL D., HALL B., VINCENT P., LITWIN A. et ZIADE F., « Propagation automatique des incertitudes : application aux techniques d’auto-étalonnage des analyseurs de réseau vectoriels », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/20150012006.

CHARLES M., LE SAGE Y., VINCENT-DROUART P. et LERAT J.-M., « Calcul numérique de l’incertitude de l’holographie extraite d’une mesure de champ proche planaire », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/20150002010.

LE SAGE Y., CHARLES M. et LERAT J.-M., « Mesure des paramètres d’une antenne sous une température controllée », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/20150012010.

POIRIER W., « Un étalon quantique de résistance électrioque en graphène facile à mettre en œuvre », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

SINDJUI R., THEVENOT O., GOURNAY P., THUILLIER G., SERON O., KHAN S. et PIQUEMAL F., Improvement of the measurement chain linking the farad to the ohm”, 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/20150012003.

ZIADE F., POLETAEFF A., KOKALJ M. et PINTER B., « Traçabilité des réseaux d’impédance de ligne (RSIL) », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015, DOI: 10.1051/metrology/20150012011.

ALLAL D., « Mesure de la permittivité de liquides de référence pour la détermination du DAS », Journée scientifique « Caractérisation électromagnétique des matériaux en hyperfréquence », LNE, Paris, France, 5 novembre 2015.

ALLAL D. et CHARLES M., « Caractérisation de matériaux de référence pour la vérification des spectromètres térahertz », Journée scientifique « Caractérisation électromagnétique des matériaux en hyperfréquence », LNE, Paris, France, 5 nov. 2015.

CHARLES M., « Caractérisation électromagnétique des matériaux à partir de mesures jusqu'à 110 GHz sur ligne coplanaire », Journée scientifique « Caractérisation électromagnétique des matériaux en hyperfréquence », LNE, Paris, France, 5 nov. 2015.

ZIADE F. et LERAT J.-M., « Mesure de permittivité de matériaux diélectriques jusqu’à 4,5 GHz », Journée scientifique « Caractérisation électromagnétique des matériaux en hyperfréquence », LNE, Paris, France, 5 novembre 2015.

RIBEIRO-PALAU R., Graphene surpassed GaAs/AlGaAs for convenient quantum Hall resistance standards”, Joint meeting GDR-I Graphene & Nanotubes - GDR Mesoscopic Quantum Physics, Aussois, France, 29 nov. - 3 décembre 2015.

LOUARN K., FONTAINE C., ARNOULT A., OLIVIE F., LIBAUDE G., PIQUEMAL F., DELVALLEE A., BOUNOUH A. et ALMUNEAU G., « Jonctions tunnels à base d’hétérostructures à semiconducteurs III-V pour les cellules solaires multi-jonction à haut rendement », Journées Nationales du Photovoltaique (JNPV 2015), Dourdan, France, 1-4 décembre 2015.

SCHOPFER F., Quantum Hall resistance standard in graphene devices under relaxed experimental conditions”, Annual workshop, Collège doctoral Franco-Allemand (CDFA-05-06), Bochum, Allemagne, 8 décembre 2015.

ALLAL D., Comparison of two VNAs in the 1 mm coaxial line up to 110 GHz”, 5th European ANAMET Meeting, LNE, Paris, France, 11 décembre 2015.

ZIADÉ F., Uncertainty calculation of balanced standards up to 25 GHz”, 5th European ANAMET Meeting, LNE, Paris, France, 11 décembre 2015.