The future International System of Units, based on fundamental constants, will allow to take full advantage of the quantum standards of resistance, current and voltage that are linked to the planck constant and the elementary charge only. In this thesis, we have developed and studied a resistance standard based on the quantum Hall effect in graphene obtained by chemical vapor deposition (propane/hydrogen) on silicon carbide substrate. For the first time we were able to show that a graphene resistance standard could operate at more practical experimental conditions than its counterpart in GaAs/AlGaAs, ie at higher temperatures (T = 10 K), weaker magnetics fields (B = 3,5 T) and larger measurement currents (I = 500 μA). From an understanding and improvement perspective, we have analyzed the fabrication process of the Hall bar and its reproducibility, tested a method to modify the electronic density, and investigated the quantum Hall effect dissipation mechanisms. In a second part, we have demonstrated that it was possible to realize a programmable and versatile quantum current source from the elementary charge, by combining the two quantum standards of voltage and resistance in a quantum circuit integrating a cryogenic current comparator. Currents were generated in the range from 1 μA to 5 mA, with a relative uncertainty never achieved before of 10⁻⁸. We have also showed that this current standard, realizing the new definition of the ampere, could be used to calibrate an ammeter.

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metrology, quantum Hall effect

Measuring high alternating currents over a wide frequency bandwidth is essential for many applications including the monitoring of the electrical distribution network and the development of electric vehicles. In the first case, current measurement is necessary to quantify the quality of the grid in the presence of harmonics from intermittent renewable energies with a large frequency spectrum (several hundred kilohertz). In the second case, current measurement (up to several tens of amperes) is used to quantify the efficiency of an electric motor's traction chain: in current measurement, it is essential to take into account a large number of harmonics (up to 1 MHz) to ensure an accurate knowledge of the motor's efficiency. Resistors of low values, called “shunt”, are then mandatory to measure high currents. Shunts are widely used as a resistance standard in metrology laboratories and precision instruments. Their use requires the preliminary knowledge of the following two parameters according to the frequency: Impedance phase shift; relative variation of the impedance magnitude according to its DC resistance value, this parameter is called “AC-DC difference”. For a current level of 10 A, the impedance of existing shunts shows strong variations in magnitude and phase for frequencies above 100 kHz. In addition, in National Metrology Institutes, to calibrate shunts beyond 1 A the measurement methods currently used are limited in magnitude up to 100 kHz and phase up to 200 kHz; and provide access to only one of the two parameters: magnitude or phase of impedance. The aim of this thesis is to extend the calibration capabilities of high current sensors up to 10 A and 1 MHz and thus improve the traceability of AC current measurements. Firstly, we developed a 10 A shunt standard whose electromagnetic (up to 10 MHz) and thermal responses are fully calculable: at 1 MHz the phase shift and transposition deviation are -0.01 mrad and 15 ppm respectively. Secondly, we developed a traceable calibration method to measure shunts up to 10 MHz. The measurement method, based on the use of a vector network analyzer, allows the AC-DC deviation and impedance phase of a shunt to be measured simultaneously with relative uncertainties less than 1×10⁻³ at 1 MHz.

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uncertainly, current measurement, calibration, current shunts, impedance, modeling

Differential circuits are widely used in the design of high frequency components mainly because of their better noise immunity. These circuits can be characterized using mixed-mode S parameters (differential- and common-mode S-parameters and cross-mode terms). Furthermore, the trend toward miniaturization and integration of microwave devices increases the need for planar or coplanar microwave integrated circuits such as micro-strip lines or coplanar waveguides. The ungrounded coplanar waveguide structure with all the conductors located on the same side of the substrate eliminates the need for via-holes, and thus simplifies manufacturing and prevents the appearance of some parasitic elements. From the viewpoint of electrical metrology, it is necessary to establish the traceability of the mixed-mode S-parameter measurements to the International System of Units (SI). The Multimode Thru-Reflect-Line (TRL) calibration method, derived from the commonly-used TRL calibration for S-parameter measurements of single-ended circuits, is particularly well suited for this purpose as the standards are traceable via dimensional measurements. The characteristic impedance, which defines the reference impedance of the measurement system, can be achieved from the propagation constants determined during the Multimode TRL calibration and the capacitances per unit length of the transmission line.

We present the first design and realization of Multimode TRL calibration and verification kits using coupled coplanar lines in the “Ground - Signal - Ground - Signal – Ground” configuration on quartz (SiO₂), the low-loss substrate, for on-wafer mixed-mode S-parameter measurements from 1 GHz to 40 GHz.

Measurements are performed using two methods: the “one-tier” technique, based on the Multimode TRL calibration procedure, determines and corrects all systematic errors. The “two-tier” approach, in which the Multimode TRL is applied at the second-tier, is applied to measurement data that were partially corrected by the first calibration. The feasibility and the validation of the methods are demonstrated by measurements of matched, mismatched and unbalanced lines and T-attenuators showing good agreement between simulated and measured results.

The propagation of uncertainty can be derived by the calculation of partial derivatives using the Metas.Unclib tool or by the numerical approach based on the Monte Carlo technique. The accuracy of on-wafer S-parameter measurements depends on sources of influence attributed to the measurements and to the imperfections of the standards such as the VNA noise and non-linearity, the cable stability, the measurement repeatability, and the sensitivity in calibration standards’ realization. We focus, first and foremost, on the propagation of uncertainties related to the repeatability of the standards and the device under test measurements to the corrected mixed-mode S-parameters of the mismatched line. The results show that the partial derivatives approach based on an approximation of the first-order Taylor series cannot be accurately used due to the significant influences of non-linear functions in the Multimode TRL algorithm. The Monte Carlo method is then more precise although it requires very long computation time.

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four-port vector network analyzer, differential circuit, multimode TRL calibration, coupled coplanar waveguide, mixed-mode scattering parameters, measurement uncertainty

As the worldwide concern for the climate change and its effects are growing, the governments are forced to make strong decisions in favour of the implementation of the smart electrical grids. However, the success of these actions strongly depends on meeting the certain requirements of the electricity system raised by the quality of the energy supplied and the means to assess it. The smart electrical networks have to tackle the challenges raised by the increasing uptake of the renewable energy sources, such as the photovoltaic (PV), wind, etc. and the equipment, such as photovoltaic inverters (PVI), electric vehicle chargers (EVC), etc. This introduces a complex dynamic operating environment for the distribution system. The distortions coming from the new generation and load equipment are generally larger and less regular than those due to the traditional generation and load equipment, making the power and energy measurements difficult to perform. In this context, the thesis aims to quantify and reproduce the supraharmonic emissions in the frequency range of 2 kHz to 150 kHz. Therefore, the existing literature on the supraharmonic emissions in the frequency range of 2 kHz to 150 kHz is studied. The 4-channel measurement system is designed and implemented for the measurement of the fundamental and supraharmonic components of the voltage and current waveforms in the frequency range of 2 kHz to 150 kHz in the electrical network. The measurements are carried out in the EDF’s Concept Grid platform. The individual equipment characterization and electrical network tests are carried out here. The waveforms acquired during the measurement campaigns are processed mathematically using the fast Fourier transform (FFT) algorithm and statistically using the analysis of variance (ANOVA) algorithm. The mathematical and statistical processing of the acquired waveforms helps to determine the individual effects and interactions of the different parameters in the generation of the supraharmonic emissions in the electrical network. The various parameters, such as the primary and secondary emissions, effects of the cable length, effects of the sudden addition and removal of the load equipment are also studied. The thesis describes the design of the complex waveform platform, which can be used for the laboratory testing and the characterization of the power quality analyzers (PQA) in the frequency range of 2 kHz to 150 kHz. In the electrical networks, the waveform platform can be used to measure the supraharmonic emissions in the frequency range of 2 kHz to 150 kHz. The software architecture of the waveform platform is described here. In addition, the paper explains the hardware design of the waveform platform. It also includes the laboratory and electrical network applications of the waveform platform. The laboratory setup for the characterization of the PQA and the measurement schema for the electrical network waveforms are also depicted here. The uncertainty budget for the waveform platform is calculated considering the various factors, such as the cable length, noise, etc. are discussed in the thesis. Finally, the PQA is characterized in the frequency range of 2 to 150 kHz with respect to the waveform platform for varying emission amplitudes.

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power quality, renewable energy sources, smart grids, supraharmonic emissions, waveform platform

CHEVTCHENKO O. et al, “Realization of a quantum standard for ac voltage: overview of a European research project”, IEEE Trans on Instr. and Meas., 54, 2 (numéro spécial sur CPEM 2004), 2005.

FELTIN N., DEVOILLE L., STECK B., PIQUEMAL F., ULYSSE C. et JIN Y., « Un nouvel outil pour la métrologie électrique: le dispositif à un électron », Revue française de métrologie, 2, 2005, 11-34.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., “Calculable dipole antenna for EMC measurements with low-loss wide-band balun from 30 MHz to 2 GHz”, Journal of Electromagnetics, 25, 3, avril 2005, 187-202.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., “Analytical study of the printed dipole. Closed-form formula of impedance”, Microwave and Optical Technology Letters, 45, 4, 2005, 345-347.

MARULLO-REETZ G. et al, “Comparison of Euromet EM-K8 of DC voltage ratio: results”, IEEE Trans on Instr. and Meas., 54, 2 (numéro spécial sur CPEM 2004), 2005.

ESPEL P., « Le nouvel étalon de puissance BF », Journée des métrologues du LNE, Paris, France, 5 avril 2005.

ZIADE F., KAZEMIPOUR A., ALLAL D. et BERGEAULT E., « Faisabilité d’un étalon calculable de puissance HF », XIV^es Journées nationales micro-ondes (JNM), Nantes, France, mai 2005.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., « Modèle filaire d’une antenne large-bande bipolarisation de géométrie complexe », XIV^es Journées nationales micro-ondes (JNM), Nantes, France, mai 2005.

PIQUEMAL F., « La supraconductivité en métrologie », 2^es Journées SUPRA, Observatoire de Paris, France, 19-20 mai 2005.

DEVOILLE L., FELTIN N. et STECK B., “LNE-LPN joint project on the fabrication of SET devices and CCC”, Workshop Euromet DC&Quantum electrical metrology, 23-25 mai 2005, Bern, Suisse.

POIRIER W. et SCHOPFER F., “QHARS: Last results”, Workshop EUROMET DC&Quantum electrical metrology, Bern, Suisse, 23-25 mai 2005.

DJORDJEVIC S. et CANCELA P., “Characterization of different types of Josephson arrays with a new transportable He flow cryostat”, Workshop Euromet DC&Quantum electrical metrology, Bern, Suisse, 23-25 mai 2005.

PIQUEMAL F., “The MERA and iMERA projects”, Workshop Euromet DC&Quantum electrical metrology, Bern, Suisse, 23-25 mai 2005.

PONS C., MONNOYE O. et KÄMPFER H., “Electrical measurements: Quality is here to stay”, International Symposium on Testing of electrical equipment for medium and high voltage networks, Les Renardières, France, mai 2005.

DROUART P. et ALLAL D., « La mesure de bruit au LNE », 12^e Congrès international de métrologie, Lyon, France, 20-23 juin 2005.

MONNOYE O. et BLANC I., « Méthodes d’échantillonnage électrique : application aux mesures de tension à très basse fréquence », 12^e Congrès international de métrologie, Lyon, France, 20-23 juin 2005.

POLETAEFF A., ALLAL D. et LEPRAT D., « Transposition alternatif-continu en tension jusqu’à 100 MHz au LNE », 12^e Congrès international de métrologie, Lyon, France, 20-23 juin 2005.

RUCHAUD N., « Mesures des très faibles courants et des résistances de fortes valeurs par la méthode d’intégration », 12^e Congrès international de métrologie, Lyon, France, 20-23 juin 2005.

THEVENOT O., TRAPON G. et BOUNOUH A., « Fabrication et étalonnage de transformateurs étalons au LNE », 12^e Congrès international de métrologie, Lyon, France, 20-23 juin 2005.

BOUNOUH A. et CADEAU-BELIARD S., “Calculations of AC resistance standard characteristics with Flux3D software”, VII Conference on advanced mathematical and computational tools in metrology, Lisbonne, Portugal, juin 2005.

ZIADÉ F., KAZEMIPOUR A., ALLAL D. et BERGEAULT E., “Optimized time-domain electromagnetic simulator for RF power standards”, VII Conference on advanced mathematical and computational tools in metrology, Lisbonne, Portugal, juin 2005.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., “Simple Closed-Form Formula for the Impedance of Printed Dipole”, IEEE international conference on AP-S/URSI, Washington, Etats-Unis d’Amérique, juillet 2005.

STECK B., DEVOILLE L., FELTIN N., PIQUEMAL F., ULYSSE C. et JIN Y., “Towards a quantum current standard: a single electron device connected to a CCC”, TNT 2005: Trends in NanoTechnology, Oviedo, Espagne, septembre 2005.

BOUNOUH A., LAMY S. et LAPOSTOLLE F., “Coaxial AC resistance standards up to 10 kW manufactured by LNE”, VI^th SEMETRO, Rio de Janeiro, Brésil, septembre 2005.

ESPEL P. et SVENSSON S., “Phase angle errors applying dual channel sampling”, VI^th SEMETRO, Rio de Janeiro, Brésil, septembre 2005.

STECK B., “Towards a quantum current standard: a single electron device connected to a CCC”, Ecole thématique de Physique mésoscopique du GDR n° 2426, Aussois, France,
25 septembre – 5 octobre 2005.

DEVOILLE L., DJORDJEVIC S., FELTIN N. GONZALEZ-CANO A., POIRIER W., SCHOPFER F. et STECK B., « Métrologie quantique », Réunion pléniaire du GDR Physique quantique mésoscopique n° 2426, 5-7 octobre 2005, Aussois, France.

KAZEMIPOUR A., ALLAL D. et BEGAUD X., “How to relate the roughness of the ground-plane to the EMC antenna calibration uncertainty in an open-field site?”, XXVIII^e assemblée générale de l’URSI, New Delhi, Inde, 23-29 octobre 2005.

FELTIN N., « Nanotechnologie et nanomatériaux », Ecole des Mines, Paris, France, 29 novembre 2005.

POIRIER W., « Quantification et universalité de la résistance en régime d’effet Hall quantique entier : un point de vue de métrologue », Groupe de travail sur les unités de base et les constantes fondamentales de l’Académie des Sciences, Paris, France, 6 décembre 2005.

THEVENOT O., « Application du théorème de Lampard pour la vérification de l’égalité R_K = h/e², Groupe de travail sur les unités de base et les constantes fondamentales de l’Académie des Sciences, Paris, France, 6 décembre 2005.

ALLAL D. et ACHKAR J., “CCEM.RF-K9: International comparison of thermal noise standards between 12.4 GHz and 18 GHz (GT-RF/99-1)”, Metrologia Tech. Suppl., 43, 2006, 01005.

EIØ C., ADAMSON D., RANDA J., ALLAL D. et UZDIN R., “CCEM.RF-K18.CL (GT-RF/00-1): Noise in 50 coaxial line at frequencies up to 1 GHz”, Metrologia Tech. Suppl., 43, 2006, 01004.

GALLOP J. et PIQUEMAL F., “The SQUID Handbook. Vol.II: SQUIDs for Standards & Metrology”, chapitre 9, Clarke J. et Braginski A.I., Wiley, Berlin, 2006, ISBN 9783527404087.

GALLOP J. et PIQUEMAL F., « Une revue des applications métrologiques des SQUID », Revue française de métrologie, 8, 2006, 13-43.

POLETAEFF A., “CCEM-K9 comparison of AC–DC high voltage standards”, Metrologia Tech. Suppl., 43, 2006, 01001.

POLETAEFF A., “Euromet 557 comparison Euromet.EM-K9 of AC–DC high voltage standards”, Metrologia Tech. Suppl., 43, 2006, 01003.

ZIADÉ F. et KAZEMIPOUR A., “Using CST simulator for metrological application: RF power standards”, CST-Computer Simulation Technology meeting, Boppard, Allemagne, 9-10 mars 2006.

THEVENOT O., « L'étalon calculable de capacité de type Lampard Thompson au LNE et son application à la détermination de R_K », Séminaire  au BIPM, 15 mars 2006.

POIRIER W., « Métrologie électrique quantique: unités, constantes fondamentales, étalons du triangle métrologique, mise en œuvre de l’effet Hall quantique », Séminaire au CEA/SPEC, Saclay, France, 3 mai 2006.

ALLAL D., “Key comparison CCEM.RF-K9 of noise standards between 12.4 GHz and 18 GHz”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

BOUNOUH A., LAPOSTOLLE F., LAMY S. et CONSÉJO C., “Sputtered thin films for coaxial AC/DC resistance standards”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

DJORDJEVIC S., POLETAEFF A., BEHR R. et PALAFOX L., “AC-DC transfer measurements of ac waveform synthesized using a sinis Josephson junction array”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

ESPEL P., “A new standard wattmeter at LNE”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

GENEVÈS G., GOURNAY P., HAUCK C., DJORDJEVIC S. et BEHR R.,“Characterization of a programmable voltage standard based on a sinis josephson junctions array for the french watt balance experiment”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

GOEBEL R., DELAHAYE F., JECKELMANN B., SCHOPFER F. et POIRIER W., “Preliminary investigation of the use of quantum Hall array resistance standards as traveling standards”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

POLETAEFF A. et LEPRAT D.,”International comparison of AC-DC high voltage transfer standards”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

RUCHAUD N., LEPRAT D., MONNOYE O., DASILVA R. et BLANC I., “Measurement of ultra-low currents and high resistances using the integrating method”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

SCHOPFER F. et POIRIER W., “Quantum Hall effect Wheatstone bridge”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

STECK B., FELTIN N., DEVOILLE L., GONZALES-CANO A., PIQUEMAL F., ULYSSE C. et LOTKHOV S., “Investigation of metrological limitations due to frequency effects in R-pumps: a contribution to the metrological triangle”, 25th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

THEVENOT O., CONSÉJO C., BOUNOUH A., LACUEILLE J.C., DAVID J.M., NOIRÉ P., CUQ M. et DIOLEZ G., “Application of the dissociated metrological structure for the cylindricity measurement of calculable cross capacitor electrodes”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

ZIADÉ F., KAZEMIPOUR A., BERGEAULT E., ALLAL D. et BOURGHES M., “Toward a calculable RF power standard”, 25^th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2006), Turin, Italie, 9-14 juillet 2006.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., “Novel bipolarization broadband wire antenna”, IEEE-APS International symposium, Albuquerque, Etats-Unis d’Amérique, 9-14 juillet 2006.

PIQUEMAL F., “Single charge tunneling in Metrology: towards new quantum standards”, Enrico Fermi International School of Physics, Varenne, Italie, 18-28 juillet 2006.

PIQUEMAL F., “Closing the quantum metrological triangle: Why and How?”, Enrico Fermi International School of Physics, Varenne, Italie, 18-28 juillet 2006.

SCHOPFER F. et POIRIER W., “New developments in the metrological application of the quantum Hall effect”, VI^th Rencontres du Vietnam, Nanophysics: from fundamentals to applications, Hanoï, Vietnam, 6-12 août, 2006.

SCHOPFER F. et POIRIER W., « Métrologie de l’effet Hall quantique », Séminaire au LPS, Orsay, France, 28 septembre 2006.

POIRIER W. et SCHOPFER F., « Nouveaux développements en métrologie de l’effet Hall quantique », Journées de la Matière Condensée JMC’10, Toulouse, France, 28 août - 2 septembre 2006.

STECK B., FELTIN N. et DEVOILLE L., « Application de dispositifs à blocage de Coulomb en métrologie électrique fondamentale », Journées de la Matière Condensée JMC’10, Toulouse, France, 28 août - 2 septembre 2006.

BOUNOUH A., LAPOSTOLE F. et LAMY S., “Fabrication and characterisation of coaxial resistors for the determination of R_K”, 18^th IMEKO World Congress Metrology for a Sustainable Development, Rio de Janeiro, Brésil, 17-22 septembre 2006.

SCHOPFER F. et POIRIER W., “Recent developments in the metrological application of the quantum Hall effect”, Session plénière du GDR Physique Quantique Mésoscopique, La Grande Motte, France, 9-12 octobre 2006.

FELTIN N., DEVOILLE L., STECK B., GONZALEZ-CANO A., ULYSSE C. et LOTHKOV S.V., « Applications de dispositifs à blocage de Coulomb en métrologie électrique fondamentale », Session plénière du GDR Physique Quantique Mésoscopique, la Grande Motte, France, 9-12 octobre 2006.

PIQUEMAL F., “Quantum metrological triangle experiment using a CCC as an ultra-low-current amplifier”, Séminaire au PTB, Berlin, Allemagne, 8 novembre 2006.

ALLAL D. et LITWIN A., « Equivalence de deux analyseurs de réseaux vectoriels pour la traçabilité des paramètres S », Revue française de métrologie, 12, 2007, 13-18.

ESPEL P., « Développement d’un wattmètre numérique à échantillonnage », Revue française de métrologie, 12, 2007, 3-12.

FELTIN N. et DEVOILLE L., « Dispositif à un électron et métrologie de l’ampère », Techniques de l'ingénieur, Mesures et Contrôle, R910, 2007.

PIQUEMAL F., DEVOILLE L., FELTIN N. et STECK B., “Single charge transport standards and Quantum Metrological Triangle experiments”, Proceedings of the International School of Physics « Enrico Fermi », Course CXLVI, Recent Advances in Metrology and Fundamental Constants, Societa Italiana di Fisica-Bologna, Edited by T.W. Hansch, S. Leschiutta, A.J. Wallard and M.L. Rastello, IOS Press ISBN: 978-1-58603-784-0, 2007, 181-210.

POLETAEFF A. et LEPRAT D., « Comparaison internationale d’étalons de transposition thermiques jusqu’à 1 000 V », Revue française de métrologie, 10, 2007, 37-42.

SCHOPFER F. et POIRIER W, “Testing Universality of the quantum Hall effect by means of the Wheatstone bridge”, Journal of Appl. Phys., 102, 5, 2007, 54903 1-9.

SCHOPFER F., “Quantum Hall effect and Metrology”, Réunion plénière du GDR 2426 Physique quantique mésoscopique, Aussois, France, 19-22 mars 2007.

STECK B. et al, « Utilisation du blocage de Coulomb en métrologie électrique fondamentale », Journées scientifiques du CNFRS, Paris, France, 20-21 mars 2007.

FELTIN N., « TRIMET : Réalisation du triangle métrologique, contribution à la détermination de constantes fondamentales », Colloque d’avancement des projets SDU/Physique Jeunes Chercheurs, Orléans, France, 11-12 avril 2007.

ZIADE F., “Feasability of a calculable RF power standard”, Agilent Technologies Metrology Workshop, Teddington, Royaume-Uni, 11-13 avril 2007.

ALLAL D., “Progress in on-wafer metrology at LNE”, EUROMET RF expert meeting, Delft, Pays-Bas, 26-27 avril 2007.

KAZEMIPOUR A., “Calculable RF power standard”, EUROMET RF expert meeting, Delft, Pays-Bas, 26-27 avril 2007.

DEVOILLE L. et al, « Expérience du triangle métrologique », Journée C’Nano Ile de France, Orsay, France, 3 mai 2007.

THEVENOT O. et al, “A new apparatus for cylindricity measurement with uncertainty less than 25 nm”, 7^th International conference of the EUSPEN, Brême, Allemagne, 20-24 mai 2007.

BAHOUCHE M., ALLAL D., BERGEAULT E. et HUYART B., « Evaluation de la technique de calibrage TRA (Thru-Reflect-Attenuator) pour la traçabilité des mesures sous pointes », 15^e Journées nationales micro-ondes, Toulouse, France, 23-25 mai 2007.

ZIADE F. , KAZEMIPOUR A., BERGEAULT E., ALLAL D. et BOURGHES M., « Wattmètre en technologie coplanaire, applications métrologiques », 15^e Journées nationales micro-ondes, Toulouse, France, 23-25 mai 2007.

DJORDJEVIC S., BERH R. et PALAFOX F., « Génération de tension alternative métrologique à l’aide de réseaux de jonctions Josepshon », Journées SUPRA 2007, Palaiseau, France, 11-13 juin 2007.

FELTIN N. et al, « Application du Comparateur Cryogénique de Courants Continus (4C) pour la métrologie de l'ampère et l'expérience du triangle métrologique », Journées SUPRA 2007, Palaiseau, France, 11-13 juin 2007.

ALLAL D. et MELLOUET B., « Traçabilité au SI des mesures effectuées à l’aide d’analyseurs de réseaux vectoriels », 13^e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

BEHR R. et al, “Binary Josephson array power standard”, 13^e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

MANCEAU J., BOUNOUH A., DELAUNAY R. et BLANC I., « Mesure des déphasages au moyen d’une méthode par échantillonnage pour des fréquences comprises entre 20 Hz et 20 kHz », 13^e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

POIRIER W., “Graphene physics and metrology”, Euromet Expert Meeting on quantum electrical metrology, Espoo, Finlande, 25-27 juin 2007.

STECK B. et al, “Investigations of the frequency effects on the noise generated by an electron R-pump directly connected to a CCC in the range 10 MHz – 100 MHz”, Euromet Expert Meeting on quantum electrical metrology, Espoo, Finlande, 25-27 juin 2007.

DJORDJEVIC S., BEHR R. et PALAFOX L., “Synthesis of AC waveform using Josephson junction array”, Euromet Expert Meeting on quantum electrical metrology, Espoo, Finlande, 25-27 juin 2007.

POLETAEFF A. et LEPRAT D., “New development in low voltage AC-DC thermal transfer at LNE”, Euromet LF electricity expert meeting, Espoo, Finlande, 27-29 juin 2007.

THEVENOT O., CONSEJO C, LAHOUSSE L. et LACUEILLE J.C., « Détermination de R_K au LNE », Séminaire du GES, Montpellier, France, 29 juin 2007.

GONZALEZ-CANO A. et al, “A 20 000 turns cryogenic current comparator for low level current measurements: Characterization and analysis of its frequency behaviour”, 12^th international workshop on Low Temperature Detectors, Paris, France, 22-27 juillet 2007.

GONZALEZ-CANO A. et al, “A 20 000 Turns Cryogenic Current Comparator for SET and Metrological Triangle Experiences: Characterization and Optimization”, International School Quantum Metrology and Fundamental Constants, Les Houches, France, 1-12 octobre 2007.

POIRIER W. et SCHOPFER F., “Quantum Hall Effect Universality Tests and Graphene”, International School Quantum Metrology and Fundamental Constants, Les Houches, France, 1-12 octobre 2007.

STECK B. et al, “A contribution to the metrological triangle experiment: Study of a 3 junctions pump in the range 10-100 MHz”, International School Quantum Metrology and Fundamental Constants, Les Houches, France, 1-12 octobre 2007.

THEVENOT O. et al, “Development of a new LNE calculable capacitor for a determination of the von Klitzing constant at an uncertainty of one part in 10⁸”, International School Quantum Metrology and Fundamental Constants, Les Houches, France, 1-12 octobre 2007.

BOUNOUH A., « Etalons primaires en métrologie électrique courant continu et basse fréquence », Séminaire du LERMPS, Montbéliard, France, 8 novembre 2007.

MORILHAT A., LAPOSTOLLE F., BILLARD A. et BOUNOUH A., “Synthesis by magnetron sputtering of ultra thin resistive layers on cylindrical ceramic sticks for the development of calculable AC resistance standards”, Innovations on Thin Films Processing and Characterisation, Nancy, France, 20-23 novembre 2007.

DJORDJEVIC S., SÉRON O., SOLVE S. et CHAYRAMY R., “Josephson voltage standard at the level of 10 V”, Metrologia, 45, 2008, 429–435.

KELLER M. W., PIQUEMAL F., FELTIN N., STECK B. et DEVOILLE L., “Metrology triangle using a Watt balance, a calculable capacitor, and a single-electron tunneling device”, Metrologia, 45, 2008, 330–334.

MANCEAU J., BOUNOUH A., DELAUNAY R et BLANC I., « Mesures de déphasages pour des signaux alternatifs sinusoïdaux », Revue française de métrologie, 13, 2008, 3-12.

MONNOYE O. et RUCHAUD N., « Etalonnage des résistances de haute valeur et des très faibles courants », Revue française de métrologie, 14, 2008, 13-32.

STECK B., GONZALEZ-CANO A., FELTIN N., DEVOILLE L., PIQUEMAL F., LOTKHOV S. et ZORIN A.B., “Characterization and metrological investigation of an R-pump with driving frequencies up to 100 MHz”, Metrologia, 45, 2008, 482-491.

SCHOPFER F., « Métrologie quantique », Séminaire Nanoélectronique Quantique, Grenoble, France, 4 mars 2008.

POIRIER W., « Métrologie de l’ohm fondée sur l’effet Hall quantique », Séminaire du LNE-SYRTE, Paris, France, 13 mars 2008.

DJORDJEVIC S., « L’effet Josephson et ses applications en métrologie du volt », Séminaire du LNE-SYRTE, Paris, France, 3 avril 2008.

FELTIN N., “Preliminary results performed with the complete set-up of the quantum metrological triangle”, EURAMET experts in DC quantities and quantum electrical metrology, Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 7 juin 2008.

BAHOUCHE M., ALLAL D., BERGEAULT E. et LITWIN A., “A simple impedance correction for on-wafer TAN calibration techniques”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

BENNACEUR K., GUIGNARD J., SCHOPFER F., POIRIER W. et GLATTLI D.C., “Hall resistance plateaus in high quality graphene samples at large currents: towards quantization tests”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

BOUNOUH A., CAMON H., RICART T., PISELLA C., ZIADÉ F., POLETAEFF A., ALLAL D., PLANA R. et LEPRAT D., “Electrostatic actuated MEMS for precision AC voltage references”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

BOUNOUH A., SATRAPINSKI A., ZIADÉ F., MORILHAT A. et LEPRAT D., “Direct comparisons of AC resistance standards of various technology design”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

CHENAUD B., STECK B., GONZALEZ-CANO A., FELTIN N., DEVOILLE L., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “Experimental realisation of the quantum metrological triangle experiment at LNE: set-up and first results”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

CONSEJO C., THÉVENOT O., LAHOUSSE L. et DAVID J.M., “Toward a determination of R_K at LNE with a new Thompson Lampard calculable capacitor”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

DJORDJEVIC S., SÉRON O., SOLVE S. et CHAYRAMY R., “Direct 10 V Josephson voltage standard comparison between a programmable SINIS array and a conventional SIS array”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

ESPEL P., BOUNOUH A. et POLETAEFF A., “Metrological characterizations of wideband digitizers”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

ESPEL P. et POLETAEFF A., “Measuring flicker with discrete Fourier transform”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

KAZEMIPOUR A., BEGAUD X. et KIM S.H., "Feasibility of a wideband calculable standard antenna for EMC measurements", Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

MONNOYE O. et MANCEAU J., “Study of frequency dependence of capacitance standards down to a few mHz”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

MORILHAT A., BOUNOUH A., LAPOSTOLLE F., BILLARD A., ZIADÉ F. et LEPRAT D., “Stabilization study of resistive thin films for AC resistance standards”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

POLETAEFF A et LEPRAT D., “Low voltage AC-DC thermal transfer at LNE”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

SCHOPFER F. et POIRIER W., “Reproductibility of QHE in GaAs”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

STECK B. et al, “Experimental realisation of the quantum metrological triangle experiment at LNE: set-up and first results”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

ZIADÉ F., KAZEMIPOUR A., BERGEAULT E., ALLAL D. et BOURGHES M., “Calculable coplanar RF power standard”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM'2008), Broomfield, Etats-Unis d’Amérique, 9-13 juin 2008.

POIRIER W., “Quantum Hall effect and ohm metrology: state of the art and new developments”, 18^th High Magnetic Field conference in Semiconductors Physics and Nanotechnology, São Pedro, Brésil, 3-8 août 2008.

CHENAUD B., DEVOILLE L., STECK B., FELTIN N., GONZALEZ-CANO A., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., DJORDJEVIC S., SÉRON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “Experimental realization of the quantum metrological triangle experiment”, 25^th International Conference on Low Temperature Physics, Amsterdam, Pays-Bas, 6-13 août 2008.

KAZEMIPOUR A. et BEGAUD X., “Standard electromagnetic compatibility measurements, feasibility of a wide-band calculable antenna”, URSI GA, Chicago, Etats-Unis d’Amérique, 7-16 août 2008.

BOUNOUH A., CAMON H., PLANA R., BÉLIÈRES D., WANG Q., BLARD F., ZIADÉ F., POLETAEFF A., ALLAL D. et PISELLA C., “Design and fabrication of MEMS based AC voltage references”, 16^th IMEKO TC4 Symposium, Florence, Italie, 22-24 septembre 2008.

PIQUEMAL F., “Quantum metrology triangle and determination of the elementary charge”, Seminar on determinations of SI units, Prague, République Tchèque, 13 octobre 2008.

THEVENOT O., LAHOUSSE L., CONSEJO C., DAVID J.M., LELEU S. et PIQUEMAL F., “Toward a determination of R_K in term of the new LNE calculable cross capacitor”, Simposio Metrologia 2008, Santiago de Querétaro, Mexique, 22-24 octobre 2008.

PIQUEMAL F., “Quantum metrology triangle and determination of the charge quantum”, Simposio Metrologia 2008, Santiago de Querétaro, Mexique, 22-24 octobre 2008.

KAZEMIPOUR A., “Electromagnetic compatibility (EMC), Human immunity and ecology”, IEEE International RF And Microwave Conference, Kuala Lumpur, Malaisie, 2-4 décembre 2008.

KAZEMIPOUR A., “Wideband measurement facilities: specific absorption rate (SAR), antenna”, IEEE International RF and Microwave Conference, Kuala Lumpur, Malaisie, 2-4 décembre 2008.

GUIGNARD J., POIRIER W. et SCHOPFER F., “Quantum Hall effect metrology: universality tests and graphene”, réunion plénière GDR Physique Quantique Mésoscopique n°2 426, Aussois, France, 8-11 décembre 2008.

CHENAUD B., DJORDJEVIC S., DEVOILLE L., STECK B., FELTIN N., GONZALEZ-CANO A., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., SERON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “Experimental realization of the quantum metrological triangle experiment”, Journal of physics: conference series, 150, 2009, 022008.

CONSEJO C., THÉVENOT O., LAHOUSSE L., PIQUEMAL F. et DAVID J.M., “Improvements of the measurement chain for the determination of the von Klitzing constant R_K”, IEEE T.I.M., 58, 4, 2009, 902-907.

DJAMEL A., “Final report on bilateral comparison CCEM.RF-K9.1: Thermal noise standards at 12.4 GHz, 13.5 GHz, 15 GHz and 17.5 GHz”, Metrologia, 46, 2009, 01007.

ESPEL P., « Analyse de la qualité de l’énergie électrique : mesure du Flicker », Revue française de métrologie, 20, 2009, 39-46.

ESPEL P., POLETAEFF A. et BOUNOUH A., “Characterization of analog-to-digital converters of a commercial digital voltmeter and application to power measurement”, Metrologia, 46, 2009, 578-584.

FELTIN N. et PIQUEMAL F., “Determination of the elementary charge and the quantum metrological triangle experiment”, European Physical Journal – Special topics, 172, 2009, 267-296.

PIQUEMAL F. et JECKELMANN B., “Quantum metrology and fundamental constants”, European Physical Journal – Special topics, 172, 2009, 1-408.

POIRIER W. et SCHOPFER F., “Quantum Hall effect and Ohm metrology”, Int. Journal of Mod. Phys. B., 23, 2009, 2779-2789.

POIRIER W. et SCHOPFER F., “Resistance metrology based on the quantum Hall effect”, European Physical Journal – Special topics, 172, 2009, 207-245.

SOLVE S., CHAYRAMI R., DJORDJEVIC S. et SÉRON O., “Comparison of the Josephson voltage standards of the LNE and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.b)”, Metrologia, 46, Techn. suppl., 2009, 01002.

ZIADE F., BOURGHES M., KAZEMIPOUR A., BERGEAULT E. et ALLAL D., « Étalon calculable de puissance radiofréquence », Revue française de métrologie, 20, 2009, 3-8.

KAZEMIPOUR A., ALLAL D. et BOURGHES M., “Feasibility of a wideband SAR-probe calibration cell”, 20th international Zurich symposium on electromagnetic compatibility, Zürich, Suisse, 12-14 janvier 2009.

FELTIN N., « Elaboration d’étalons primaires à partir de nanostructures et développement d’une métrologie adaptée aux nanotechnologies », Journées industrielles de l’institut Carnot M.I.N.E.S, Nanomatériaux, Paris, France, 22 janvier 2009.

ALLAL D. « Métrologie et grandeurs physiques », Journées scientifiques de l’URSI, Paris, France, 24-25 mars 2009.

ALLAL D., BOURGHES M., KAZEMIPOUR A., LE SAGE Y. et LIWIN A., « Métrologie du débit d'absorption spécifique (DAS) : un soutien à l'application de la directive européenne 2004/40/CE », Journée des métrologues, Paris, France, 31 mars 2009.

PIQUEMAL F., “Development of cryogenic current comparator for an accurate measurement of SET current”, S-Pulse workshop, Braunschweig, Allemagne, 3-5 mai 2009.

BAHOUCHE M., ALLAL D. et BERGEAULT E., “A new method to determine the reference impedance of Line-Attenuator-Reflect on-wafer vector network analyzer calibration”, IEEE I2MTC, Singapour, 5-7 mai 2009.

ALLAL D., BOUNOUH A., ZIADÉ F., MORHILLAT A. et BOURGHES M., “4TP calculable resistor as an RF impedance standard”, Agilent European metrology workshop, Boras, Suède, 13-15 mai 2009.

BOUNOUH A., BLARD F., CAMON H., BELIERES D. et ZIADE F., “MEMS for AC voltage metrology - status report”, EURAMET-LF experts meeting, Ljubljana, Slovenie, 25-27 mai 2009.

BOUNOUH A., ZIADÉ F., MORILHAT A., BOURGHES M. et ALLAL D., “LF-RF Impedance standards”, EURAMET-LF experts meeting, Ljubljana, Slovenie, 25-27 mai, 2009.

BAHOUCHE M., ALLAL D. et BERGEAULT E., « Calibrage de l'analyseur de réseau vectoriel sur wafer avec la méthode d'auto-calibrage LAR (Line-Attenuator-Reflect) », JNM 2009, Grenoble, France, 28 mai 2009.

LAHOUSSE L., THÉVENOT O., GOURNAY P. et DAVID J., “Mechanical improvements for the new LNE calculable cross capacitor”, 9th International conference EUSPEN, San Sebastian, Espagne, 2-5 juin 2009.

DJORDJEVIC S., SERON O., BEHR R. et PALAFOX L., “4 terminal Josephson synthesizer for TC calibration”, EURAMET experts meeting in DC quantities and quantum electrical metrology, Paris, France, 3-5 juin 2009.

GUIGNARD J., GLATTLI D.C., LEPRAT D., SCHOPFER F. et POIRIER W., “Quantum Hall effect metrology in graphène”, Réunion EURAMET experts meeting in DC quantities and quantum electrical metrology, Paris, France, 3-5 juin 2009.

SASSINE S., FELTIN N., STECK B., DEVOILLE L., CHENAUD B., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., DJORDJEVIC S., SERON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “Progress on quantum metrological triangle at LNE”, EURAMET experts meeting in DC quantities and quantum electrical metrology, Paris, France, 3-5 juin 2009.

SOUKIASSIAN L., SPENGLER G., LEPRAT D., SCHOPFER F. et POIRIER W., “Cryogenic current comparator for resistance metrology”, EURAMET experts meeting in DC quantities and quantum electrical metrology, Paris, France, 3-5 juin 2009.

SPENGLER G., SOUKIASSIAN L., LEPRAT D., SCHOPFER F. et POIRIER W., “New Cryogenic Resistance Comparator bridge for Quantum Resistance Metrology”, EURAMET experts meeting in DC quantities and quantum electrical metrology, Paris, France, 3-5 juin 2009.

BOUNOUH A., BLARD F., CAMON H., BÉLIÈRES D., PISELLA C. et ZIADÉ F., “Micro-nanosystems for electrical metrology and precision instrumentation”, 8th international seminar on electrical metrology - VIII semetro, Joao Pessoa, Brésil, 17-19 juin 2009.

SASSINE S., FELTIN N., STECK B., DEVOILLE L., CHENAUD B., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., DJORDJEVIC S., SERON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “The quantum metro-logical triangle experiment”, 8th international seminar on elec-trical metrology (Semetro), Joao Pessoa, Brésil, 17-19 juin 2009.

ALLAL D., VINCENT P. et LITWIN A., “Direct propagation of the uncertainties for vector network analysers”, 14^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

ESPEL P. et POLETAEFF A., « Techniques d’échantillonnage appliquées aux mesures de puissance et de qualité de l’énergie au LNE », 14^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

LE SAGE Y. et DURSENT A., “Calibration bench for HF millivoltmeters”, 14^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

MORILHAT A., LAPOSTOLLE F., BILLARD A. et BOUNOUH A., “Synthesis of ultra thin resistive layers by magnetron sputtering for the development of calculable AC resistance standards”, 17th international colloquium on plasma processes, Marseille, France, 22-26 juin 2009.

SERON O, DJORDJEVIC S., MONNOYE O., SOLVE S. et CHAYRAMI R., “Metrological applications of programmable Josephson junctions arrays”, 14^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

ZIADE F., BOUNOUH A., BOURGHES M., MORILHAT A. et ALLAL D., “Impedance measurement traceability in the LF-RF gap”, 14^e Congrès international de métrologie, Paris, France, 22-25 juin 2009.

BENACOEUR K., GLATTLI D.C., GUIGNARD J., SCHOPFER F., et POIRIER W, “Breakdown of the quantum Hall effect in graphene by large current”, Congrès général de la Société française de physique, Palaiseau, France, 6-10 juillet 2009.

GUIGNARD J., SCHOPFER F., POIRIER W, SOUKIASSIAN L., SPENGLER G., LEPRAT D. et GLATTLI D.C., “Metrology of the quantum Hall effect in graphene”, Congrès général de la Société française de physique, Palaiseau, France, 6-10 juillet 2009.

SASSINE S., FELTIN N., STECK B., DEVOILLE L., CHENAUD B., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., DJORDJEVIC S., SERON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., « Réalisation expérimentale du triangle métrologique quantique », Congrès général de la Société française de physique, Palaiseau, France, 6-10 juillet 2009.

GUIGNARD J., POIRIER W, SCHOPFER F. et GLATTLI D.C., “Towards quantum Hall effect quantization tests in graphène”, 18th International conference on electronic properties of two dimensional systems (EP2DS 18), Kobe, Japon, 19-24 juillet 2009.

SCHOPFER F., GUIGNARD J., POIRIER W, SOUKIASSIAN L., SPENGLER G., LEPRAT D., “Quantum Hall effect for metrology at LNE”, NMIJ, Japon, 27 juillet 2009.

BOUNOUH A., BLARD F., CAMON H., BÉLIÈRES D., PISELLA C. et ZIADÉ F., “Microsystems for electrical metrology applications”, XIX IMEKO Fundamental and applied metrology, Lisbonne, Portugal, 6-11 septembre 2009.

ESPEL P. et POLETAEFF A., “Static characterization of analog-to-digital converter”, XIX IMEKO Fundamental and applied metrology, Lisbonne, Portugal, 6-11 septembre 2009.

GUIGNARD J., SCHOPFER F., POIRIER W et GLATTLI D.C., “Towards quantum Hall Effect quantization tests in graphene for metrology”, Réunion plénière GDR Physique Quantique Mésoscopique n°2426, Aussois, France, 5-8 octobre 2009.

POIRIER W., « Applications de l'effet Hall quantique à la métrologie des résistances », Académie des Sciences, Paris, France, 19 octobre 2009.

PIQUEMAL F., “News from the LNE”, 21th EURAMET Electricity contact persons meeting, Delft, Pays-Bas, 28-30 octobre 2009.

PIQUEMAL F., “The Quantum metrological triangle”, 445th Wilhelm and else Heraeus seminar: quantum measurement and metrology with solid-state devices, Bonn, Allemagne, 1-5 novembre 2009.

SASSINE S., FELTIN N., STECK B., DEVOILLE L., CHENAUD B., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., DJORDJEVIC S., SERON O., PIQUEMAL F. et LOTKHOV S., “Experimental reali-zation of the quantum metrology triangle”, 445th Wilhelm and else Heraeus seminar: Quantum measurement and metrology with solid state devices, Bonn, Allemagne, 1-5 novembre 2009.

BOUNOUH A. et ALLAL D., « Constitution d'un laboratoire de référence en métrologie dans le domaine électricité-magnétisme », Techniques de l’ingénieur, R925V2, juin 2010.

BOUNOUH A, CAMON H., BELIÈRES D., BLARD F. et ZIADÉ F., “MEMS AC voltage reference for miniaturized instrumentation and metrology”, Computer Standards and Interfaces Journal, DOI: 10.1016/j.csi.2010.06.007.

BOUNOUH A., BLARD F., CAMON H. et BELIÈRES D., “Development of Electromechanical Architectures for ac voltage metrology”, Sensors and Transducers, 123, 2, 2010, 1-15.

ESPEL P., POLETAEFF A. et NDILIMABAKA H., “Traceability of voltage measurements for non-sinusoidal waveforms”, Measurement Science Review, 10, 6, 2010, 200-204.

ESPEL P., “Comparison of three accurate methods for Flicker measurements”, Metrologia, 47, 2010, 287-264.

KAZEMIPOUR A., ZIADE F., ALLAL D., BERGEAULT E. et LITWIN A., “Non-linear modeling of RF thermistor, application to bolometer mount calibration”, Actes de “Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010)”, 698-699, DOI: 10.1109/CPEM.2010.5544177.

LESAGE Y., « Métrologie des tensions alternatives en hautes fréquences de 9 kHz à 2 GHz », MTL-II-90-30, AFNOR, mai 2010.

PIQUEMAL F., “Quantum electrical standards”, Handbook of Metrology, Wiley, avril 2010, ISBN 978-3-527-40666-1.

POIRIER W et SCHOPFER F, “Can graphene set new standards”, Nature nanotechnology, 5, 2010, 171-172.

SCHUMACHER B., “Final report EUROMET.EM-K10 Key comparison of resistance standards at 100 Ω”, Metrologia, 47, Techn. suppl., 2010, 01008, DOI: 10.1088/0026-1394/47/1A/01008.

ZIADE F., BERGEAULT E., HUYART B. et KAZEMIPOUR A., “Realization of a calculable RF power standard in coplanar technology on aluminia substrate”, IEEE Trans. On Microwave Theory and Techniques, 58, 6, 2010, 1592-1598.

POIRIER W., “Quantum electrical metrology: units, fundamental constants, metrological triangle experiment and the implementation of the quantum Hall effect”, Université de l’Edmonton, Alberta, Canada, 8 janvier 2010.

BOUNOUH A., BRUGERE H., CLAVEL J. FEBVRE P. et LAGROYE I., « Les effets sanitaires des champs électromagnétiques extrêmement basses fréquences », AFSSET, saisine 2008-006, rapport d’expertise, mars 2010.

THEVENOT O., GOURNAY P., DUPONT L. et PIQUEMAL F., « Aspects mécaniques de l’étalon national de capacité », Colloque LNE, Figeac, France, 22 avril 2010.

CASENAVE C., MONTSENY G., CAMON H. et BLARD F., “Identifi-cation of dynamic nonlinear thermal transfers for precise correction of bias induced by temperature variations”, DTIP 2010, Microsystems technologies, 17, 4, 2011, 645-654, Séville, Espagne, 5-7 mai 2010.

BOUNOUH A., “Voltage standards based on MEMS technology”, Workshop “Essential tools for MEMS + IC Systems”, Coventor, Paris, France, 17-18 mai 2010.

PIQUEMAL F, “Scientific progress within iMERA+TP4 “Electricity & Magnetism”, Symposium iMERA+, EURAMET General Assembly, Lisbonne, Portugal, 26 mai 2010.

PIQUEMAL F, “Determination of fundamental electrical constants”, Precision Physics of Simple Atomic Systems – (PSAS2010), Les Houches, France, 30 mai - 4 juin 2010.

BOURGHES M., ALLAL D., BÉLIERES D., KAZEMIPOUR A. et LITWIN A., “Development of a 2.4 mm coaxial microcalorimeter for power measurements up to 50 GHz”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

COUTUROT A-L. et al., “Fabrication of GaAs/AlGaAs based quantum resistance standards”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

DJORDJEVIC S. et al., “Double Josephson waveform synthesizer for high precision AC-DC transfer measurement”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

GOURNAY P. et al., “Progress on the von Klitzing constant determination at LNE”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

GOURNAY P. et al., “Design of the new LNE calculable capacitor”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

GUIGNARD J. et al., “Fabrication and electrical characterization of exfoliated graphene based devices”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

GUIGNARD J. et al., “Quantum Hall effect quantization tests in exfoliated bilayer and monolayer graphene”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

KAZEMIPOUR A., ZIADE F., ALLAL D., BERGEAULT E. et LITWIN A., “Non-linear modeling of RF thermistor, application to bolometer mount calibration”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

KAZEMIPOUR A., ALLAL D., LITWIN A. et BOURGHES M., “Wideband TEM parallel-plate cell for SAR-probe calibration”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

MELCHER J. et al., “The EMRP project metrology for energy harvesting”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

NDILIMABAKA H. et al., “Development of a sine wave synthesizer based on a Josephson waveform synthesizer for AC-DC transfer measurements”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

PIERRE M., ROCHE B., JEHL X., WACQUEZ R., SANQUER M., VINET M., FELTIN N. et DEVOILLE L., “Operation of a silicon CMOS electron pump”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

SASSINE S. et al., “Quantum metrological triangle experiment: quantization tests of the electron pump”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

SERON O. et al., “Precision AC-DC transfer measurements with a Josephson waveform synthesizer and a buffer amplifier”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

SOUKIASSIAN L. et al., “New cryogenic current comparator based resistance comparison bridge at LNE”, CPEM, Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

THEVENOT O. et al., “Realization of the new LNE Thompson-Lampard electrode set”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

PIQUEMAL F, “Quantum electrical metrology and nanotechnology”, 4^th Summer School Nanosciences Ile-de-France, Domaine du Tremblay, France, 20-25 juin 2010.

SCHOPFER F., “QHE in graphene for metrology”, 30^th International conference on the Physics of Semiconductors (ICPS 30), Seoul, Corée du Sud, 25-30 juillet 2010.

POIRIER W., “QHE in graphene for metrology”, 19^th International conference on the application of high magnetic fields in semiconductor physics and nanotechnology (HMF 19), Fukuoka, Japon, 1-6 août 2010.

NDILIMABAKA H., POLETAEFF A. et ESPEL P., “Voltage measurements for distorted waveforms”, 17^th Symposium IMEKO TC4, Kosice, Slovaquie, 8-10 septembre 2010.

POLETAEFF A. et ESPEL P., “New method for determination of amplitude and modulation depth of fluctuating harmonics”, 17^th Symposium IMEKO TC4, Kosice, Slovaquie, 8-10 septembre 2010.

DJORDJEVIC S., CHARRON T., SASSINE S., DEVOILLE L., SERON O., FELTIN N., POIRIER W., SCHOPFER F., SPENGLER G., PIQUEMAL F. et LOTHKOV S., “Progress on Quantum Metrogical Triangle at LNE”, Réunion plénière GDR n° 2426 Physique quantique mésoscopique, Aussois, France, 20-22 septembre 2010.

BOUNOUH A. et al., “Metrology for energy harvesting”, 1^res Journées nationales sur la récupération d’énergie, ESIEE, Noisy-le-Grand, France, 14-15 octobre 2010.

ZIADÉ F., “Measurements and measurement traceability in the LF-RF “gap” region”, ANAMET, Teddington, Royaume-Uni, 21 octobre 2010.

PIQUEMAL F, “Report on DC& Quantum Metrology 2010”, 22^th EURAMET Electricity Contact persons meeting, Esspoo, Finlande, 28-29 octobre 2010.

PIQUEMAL F, “Thought on the new definition of ampere”, 22^th EURAMET Electricity Contact persons meeting, Esspoo, Finlande, 28-29 octobre 2010.

PIQUEMAL F. et al., “News from the LNE”, 22^th EURAMET Electricity Contact persons meeting, Esspoo, Finlande, 28-29 octobre 2010.

PIQUEMAL F, “Determination of fundamental constants in quantum electrical metrology”, International satellite meeting “Fifty years of efforts toward quantum SI units”, IOFFE Institute, St Petersbourg, Russie, 6 décembre 2010.