Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2010

Publications

AZOUIGUI S., BADR T., WALLERAND J.-P., HIMBERT M., SALGADO J. et JUNCAR P., “Transportable distance measurement system based on superheterodyne interferometry using two phase-locked frequency-doubled Nd:YAG lasers”, Rev. Sci. Instrum., 81, 2010, 053112, DOI: 10.1063/1.3428729.

VAILLEAU G.-P., « La métrologie des angles », Techniques de l'Ingénieur, R 1 300v2, 2010.

Communications

FELTIN N., « La nanométrologie au LNE : – Élaboration de nouveaux étalons primaires à partir de nanostructures – Développement d'une métrologie au service des nanotechnologies », Journée technique du LNE, Paris, France, 4 mars 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Advances in the development of the LNE mAFM”, SPIE Photonics Europe International Symposium, Bruxelles, Belgique, 12-16 avril 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., « Développement d'un AFM métrologique minimisant l'erreur d'Abbe », CAFMET 2010 3d International Metrology Conference, Le Caire, Egypte, 19-23 avril 2010.

DUCOURTIEUX S. et POYET B., « Développement d’un AFM métrologique », Colloque LNE, Figeac, France, 22 avril 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Advances in the development of the LNE mAFM”, Euspen 10th International Conference and Exhibition, Delft, Pays Bas, 29 mai - 4 juin 2010.

AZOUIGUI S., BADR T., WALLERAND J.-P., HIMBERT M., SALGADO J. et JUNCAR P., “Transportable Distance Measurement System for Long Range Applications”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010

BADR T., AZOUIGUI S., WALLERAND J.-P. et JUNCAR P., “Absolute Refractometry Using Helium”, Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2010), Daejeon, Corée du Sud, 13-18 juin 2010.

POYET B. et DUCOURTIEUX S., “Recent advances in the development of the LNE Metrological Atomic Force Microscope”, Nanoscale 2010, Brno, République Tchèque, 27-29 octobre 2010.

Patents

DAVID J.-M., NOUIRA H. et VAILLEAU G.-P., « Dispositif et procédé de mesure de caracteristiques geometriques », LNE, demande n° 1057394, dépôt le 16 septembre 2010.