Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2013

Publications

COQUELIN L., FISCHER N., MOTZKUS C., MACE T., GENSDARMES F., LE BRUSQUET L. et FLEURY G., “Aerosol size distribution estimation and associated uncertainty for measurement with a Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS)”, Journal of Physics: Conference Series, 429, 2013, 1-10, DOI: 10.1088/1742-6596/429/1/012018.

DUCOURTIEUX S. et POYET B., « Le microscope à force atomique métrologique : Un instrument de référence pour le raccordement des mesures dimensionnelles à l’échelle du nanomètre », Techniques de l’Ingénieur, NM7050, 2013, 1–22.

FAVRE G., MOTZKUS C., MACE T. et FELTIN N., « La nanométrologie et la question des matériaux de référence », Spectra Analyse, 293, 2013, 50-59.

FELTIN N. et Aguir K., « Le club nanométrologie-un cadre d'échange indispensable », Spectra Analyse, 293, 2013, 31-33.

FELTIN N., DELVALLEE A., DUCOURTIEUX S., GOURNAY P., POYET B., TRABELSI M., BOUKELLAL Y. et PIQUEMAL F., « CARMEN : une plate-forme de caractérisation métrologique dédiée aux nanomatériaux », Revue française de métrologie, 31, 2012, 41-54, DOI: 10.1051/RFM/2012009.

GAIE-LEVREL F., MOTZKUS C., MACE T., VASLIN-REIMANN S., FELTIN N., PIQUEMAL F., NIAUDET A., EYMERY F. et THIERIET N., « Caractérisation des substances à l'état nanoparticulaire dans le cadre de l'obligation réglementaire française de déclaration des nanomatériaux », Spectra Analyse, 293, 2013, 34-40.

MOTZKUS C., MACE T., GAIE-LEVREL F., DUCOURTIEUX S., DELVALLEE A., DIRSCHERL K., HODOROABA V.-D., POPOV I., POPOV O., KUSELMAN I., TAKAHATA K., EHARA K., AUSSET P., MAILLE M., MICHIELSEN N., BONDIGUEL S., GENSDARMES F., MORAWSKA L., JOHNSON G.R., FAGHIHI E.M., KIM C.S., KIM Y.H., CHU M.C., GUARDADO J.A., SALAS A., CAPANNELLI G., COSTA C., BOSTROM T., JAMTING A.K., LAWN M.A., ADLEM L. et VASLIN-REIMANN S., “Size characterization of airborne SiO2 nanoparticles with on-line and off-line measurement techniques: an interlaboratory comparison study”, J. Nanopart Res., 15, 2013, 1919-1954, DOI: 10.1007/s11051-013-1919-4.

MOTZKUS C., MACE T., VASLIN-REIMANN S., AUSSET P. et MAILLE M., “Characterization of manufactured TiO2 nanoparticles”, Journal of Physics: Conference Series, 429, 2013, 1-10, DOI: 10.1088/1742-6596/429/1/012012.

BIDEL Y., CARRAZ O., CHARRIÈRE R., CADORET M., ZAHZAM N. et BRESSON A., “Compact cold atom gravimeter for field applications”, Applied Physic Letters, 102, 144107, 2013, DOI: 10.1063/1.4801756.

CHIODO N., DU BURCK F., HRABINA J., CANDELA Y., WALLERAND J.-P. et ACEF O., “CW frequency doubling of 1029 nm radiation using single pass bulk and waveguide PPLN crystals”, Optics Communications, 311, 2013, 239-244, DOI: 10.1016/j.optcom.2013.08.020.

COURTOIS J., BOUCHENDIRA R., CADORET M., RICCIARDI I., MOSCA S., DEROSA M., DE NATALE P. et ZONDY J.-J., “High-speed, multi-THz-range mode-hop-free tunable mid-IR laser spectrometer”, Optics Letters, 38, 2013, 1972-1974, DOI: 10.1364/OL.38.001972.

MALAK M., MARTY F., NOUIRA H., VAILLEAU G. et BOUROUINA T., “All-silicon Michelson instrument on chip: Distance and surface profile measurement and prospects for visible light spectrometry”, Applied Physics Letters, 102, 141102, 2013, DOI: 10.1063/1.4801778.

NOUIRA H., VISSIÈRE A., DAMAK M. et DAVID J.-M., “Investigation of the influence of main error sources on the capacitive displacement measurements with cylindrical artefacts”, Precision Engineering, 37, 2013, 721-737, DOI: 10.1016/j.precisioneng.2013.02.005.

OBATON A.-F., LAFFONT G., WANG C., ALLARD A., et FERDINAND P., “Tilted fiber Bragg gratings and phase sensitive-optical low coherence interferometry for refractometry and liquid level sensing”, Sensors and Actuators A: Physical, 189, 2013, 451–458, DOI: 10.1016/j.sna.2012.10.020.

PORTELA M.N., WETTER N.U., ZONDY J.-J., CRUZ F.C., “A single-frequency, diode-pumped Nd:YLF laser at 657 nm: a frequency and intensity noise comparison with an extended cavity diode laser”, Laser Physics, 23, 025801, 2013, DOI: 10.1088/1054-660X/23/2/025801.

TYAZHEV A., VEDENYAPIN V., MARCHEV G., YELISSEYEV A., ISAENKO L., KOLKER D., STARIKOVA M., LOBANOV S., PETROV V. et ZONDY J.-J., “Singly-resonantoptical parametric oscillation based on the wide bandgap mid-Irnonlinear optical crystal LiGaS2”, Optical Materials, 35, 2013, 1612-1615, DOI: 10.1016/j.optmat.2013.03.016.

ZUCCO M., ROBERTSSON L. et WALLERAND J.-P., “Laser-induced fluorescence as a tool to verify the reproducibility of iodine-based laser standards: a study of 96 iodine cells”, Metrologia, 50, 2013, 402-408, DOI: 10.1088/0026-1394/50/4/402.

Communications

DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., POYET B. et BOUKELLAL Y., « Mesure traçable de la taille de nanoparticules par microscopie à force atomique », Forum de Microscopie champ proche, Spa, Belgique, 25–29 mars 2013.

BOUKELLAL Y., DUCOURTIEUX S., et POYET B., Recent advances in the development of the LNE metrological AFM”, Nanoscale, Paris, France, 25–26 avril 2013.

DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S. et TRABELSI M., “Traceable measurements of nanoparticles size by atomic force microscopy”, Nanoscale, Paris, France, 25–26 avril 2013.

NOUIRA H. et BOURDET P., “Evaluation of roundness error using the new method based on the small displacement screw (SDS)”, Nanoscale 2013, Paris, France, 25–26 avril 2013.

NOUIRA H., EL-HAYEK N., YUAN X., ANWER N. et SALGADO J., “Characterization of the main error sources of chromatic confocal probes for dimensional measurement”, Nanoscale 2013, Paris, France, 25–26 avril 2013.

NOUIRA H., SALGADO J.A., EL-HAYEK N., DUCOURTIEUX S., DELVALLÉE A. et ANWER N., “Setup of a high-precision profilometer and comparison of tactile and optical measurements of standards”, Nanoscale 2013, Paris, France, 25–26 avril 2013.

NOUIRA H., SALGADO J.-A., EL-HAYEK N., DUCOURTIEUX S., DELVALLÉE A. et ANWER N., “Comparison of inductive and optical confocal chromatic measurements of optical grooves standards and aspherical lens in dimensional metrology”, Nanoscale, Paris, France, 25–26 avril 2013.

BOUDERBALA K., VIDECOQ E., GIRAUKT M., NOUIRA H., SALGADO J. et PETIT D., « Régulation en température d’un appareill de mesure dimensionnel : contrôle MPC et LQG par modèle réduit », Congrès de la Socièté Française de Thermique (SFT), Gerardmer, France, 27–31 mai 2013, actes : http://www.sft.asso.fr/Local/sft/dir/user3775/documents/actes/congres_2013/articles/6119.pdf.

EL HAYEK N., NOUIRA H., ANWER N., DAMAK M. et GIBARU O., “Reconstruction of freeform optical surfaces for coordinate metrology”, Mets&Props 2013, Taipei, Taiwan, 17–21 juin 2013.

NOUIRA H., EL-HAYEK N., YUAN X., ANWER N. et SALGADO J.A., “Metrological characterization of optical confocal sensors measurements (20 and 350 traval ranges)”, Mets&Props 2013, Taipei, Taiwan, 17–21 juin 2013.

BOUKELLAL Y., DUCOURTIEUX S. et POYET B., “Improvement of the LNE’s metrological Atomic Force Microscope (mAFM) performance: Design of new mAFM head dedicated for nanometrology applications”, 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201306008.

OBATON A.-F., WANG M., DUDAY D., BOSCHER N., WALLERAND J.-P., NOUIRA H. et SALGADO J.-A., “Interferometric techniques to interrogate guided-wave-based sensors for metrology”, 21st IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement, Gdansk, Pologne, 16–18 sept. 2013.

DELVALLÉE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S. et TRABELSI M, “Comparison of nanoparticle diameter measurements by Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy”, 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201306007.

PIQUEMAL F., AGUIR K., BERNARD D., CAPPRONNIER V., CARIMALO J., CHAMBONNET D., DE WILDE Y., DUCOURTIEUX S., FAVRE G., FELTIN N., GAUTIER B., GOURNAY P., LAMBERT P., LEVENSON A., LOUARN G., MACE T., MOSCHETTA J.-M. et POYET B., « Deux ans d’expérience du club nanoMétrologie », 16e Congrès International de Métrologie, Paris, France, 7–10 octobre 2013, DOI: 10.1051/metrology/201313002.