Publications and communications in the field of "Length and dimensional quantities" by authors of the French metrology network in 2015

Publications

AZOUIGUI S., BADR T., JUNCAR P., HIMBERT H. ET WALLERAND J.-P., « Un télémètre transportable de résolution submicrométrique », Revue française de métrologie, 37, 2015, 3-11, DOI: 10.1051/rfm/2015001.

BERGMANS R.H., NIEUWENKAMP H.J., KOK G.J.P., BLOBEL G., NOUIRA H., KÜNG A., BAAS M., TEVOERT M., BAER G. et STUERWALD S., “Comparison of asphere measurements by tactile and optical metrological instruments”, Measurement Science and Technology, 26, 10, 2015, DOI: 10.1088/0957-0233/26/10/105004.

BOUDERBALA K., GIRAULT M., VIDECOQ E., NOUIRA H., PETIT D. et SALGADO J., “Model reduction and thermal regulation by model predictive control of a new cylindricity measurement apparatus”, International Journal of Thermophysics, 36, 8, 2015, 2099-2114, DOI: 10.1007/s10765-015-1903-6.

BOUDERBALA K., NOUIRA H., GIRAULT M., VIDECOQ E. et SALGADO J., “Effects of thermal drifts on the calibration of capacitive displacement probes at the nanometer level of accuracy”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 64, 11, 2015, 3062-3074, DOI: 10.1109/TIM.2015.2440563.

BOUKELLAL Y. et DUCOURTIEUX S., “Implementation of a four quadrant optic fibre bundle as a deflection sensor to get rid of heat sources in an AFM head”, Meas. Sci. Technol., 26, 2015, 095403, DOI: 10.1088/0957-0233/26/9/095403.

CHIVAS-JOLY C., GAIE-LEVREL F., MOTZKUS C., DUCOURTIEUX S., DELVALLÉE A., DE LAGOS F., LE NEVÉ S., GUTIERREZ J. et LOPEZ CUESTA J.-M., “Characterization of aerosols and fibers emitted from composite materials combustion”, Journal of Hazardous Materials, 2015 Aug 28;301, 2015, 153-162, DOI: 10.1016/j.jhazmat.2015.08.043.

DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., TRABELSI M. et HOCHEPIED J.-F., “Direct comparison of AFM and SEM measu-rements on the same set of nanoparticles”, Measurement Science and Technology, 26, 2015, DOI: 10.1088/0957-0233/26/8/085601.

GUILLORY J., GARCIA-MARQUEZ J., TRUONG D., Alexandre C. et WALLERAND J.-P., “Characterization and reduction of the amplitude-to-phase conversion effects in telemetry”, IOP Measurement Science and Technology, 26, 8, 2015, 084006, DOI: 10.1088/0957-0233/26/8/084006.

NOUIRA H., WALLERAND J.-P., MALAK M., OBATON A.-F., SALGADO J. et BOUROUINA T., “Miniature silicon Michelson interferometer characterization for dimensional metrology”, Sensors and Actuators A: Physical, 223, 2015, 141-150, DOI: 10.1016/j.sna.2014.12.031.

OBATON A.-F., BERNARD A., TAILLANDIER G. ET MOSCHETTA J.-M., « Fabrication additive : état de l’art et besoins métrologiques engendrés », Revue française de métrologie, 37, 2015, 21-36, DOI: 10.1051/rfm/2015003.

RANTOSON R., NOUIRA H., ANWER N. et MEHDI-SOUZANI C., “Novel automated methods for coarse and fine registrations of point clouds in high precision metrology”, International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 81, 5, 2015, 795-810, DOI: 10.1007/s00170-015-7131-1.

VIDECOQ E., GIRAULT M., BOUDERBALA K., NOUIRA H., SALGADO J. et PETIT D., “Parametric investigation of linear quadratic gaussian and model predictive control approaches for thermal regulation of a high precision geometric measurement machine”, Applied Thermal Engineering, 78, 720-730, 2015, DOI: 10.1016/j.applthermaleng.2014.10.080.

VISSIERE A., NOUIRA H., DAMAK M. et GIBARU O., “Implementation of capacitive probes for ultra-high precision machine for cylindricity measurement with nanometre level of accuracy”, International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, 16, 5, 2015, 883-893, DOI: 10.1007/s12541-015-0116-z

Communications

OBATON A.-F., « Les enjeux pour la mesure », Journée Recherche de l’AFPR, Palaiseau, France, 12 janvier 2015.

VIPREY F., “Reduction of a RRTTT machine tool geometric model by combinatorial analysis to improve volumetric accuracy”, Euspen Laser Metrology, Machine Tool, CMM & Robotic Performance (LAMDAMAP), Huddersfield, Royaume Uni, 17-18 mars 2015.

BOUKELLAL Y. et DUCOURTIEUX S., “Implementation of a new deflection sensor based on a four quadrant fiber optic bundle to replace a quad cell photodiode in a low heat sources Atomic Force Microscopy head”, 15th International Conference &  Exhibition, Leuven, Belgique, 1-5 juin 2015.

CERIA P., DUCOURTIEUX S. et BOUKELLAL Y., ”Development of a virtual metrological atomic force microscope to better estimate the measurement uncertainty using Monte Carlo method”, 15th International Conference &  Exhibition, Leuven, Belgique, 1-5 juin 2015.

GUILLORY J., GARCIA-MARQUEZ J., TRUONG D., Alexandre C. et WALLERAND J.-P., « Télémétrie optique jusqu’à 1km par mesure de phase RF », 19es Journées Nationales Micro-ondes (JNM), Bordeaux, France, 2-5 juin 2015.

GOMES S. et al., “Quantitative scanning probe microscopy techniques for heat transfer management in nanomaterials and nanodevices: first advancements”, Euro Nano Forum 2015, Riga, Lettonie, 10-12 juin 2015.

BOUKELLAL Y. et DUCOURTIEUX S., “Development of a metrological atomic force microscope for dimensional nanometrology applications”, TechConnect World Innovation, Conference& Expo, Washington DC, États-Unis, 14-17 juin 2015.

HAY B., GOMES S., ALLARD A., RAMIANDRISOA L., ASSY A., RENAHY D. et DAVEE G., “Thermal characterization of candidate materials for SThM calibration”, 19th Symposium on Thermo-physical Properties, Boulder, États-Unis, 21-26 juin 2015.

OBATON A.-F., “Metrological evaluation of tomography methods applied to objects fabricated by additive manufacturing”, International symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography (DIR2015), Ghent, Belgique, 22-25 juin 2015.

OBATON A.-F., « Identification de besoins en contrôle et mesure pour la fabrication additive », Assises Européennes de la fabrication additive de l’AFPR, Châtenay-Malabry, France, 23-25 juin 2015.

GOMES S. et al., “Quantitative scanning probe microscopy techniques for heat transfer management in nanomaterials and nanodevices: first advancements”, 12th International Conference on Nanosciences &Nanotechnologies, Thessalonique, Grèce, 7-10 juillet 2015.

FELTIN N., DELVALLEE A., DEVOILLE L., DUCOURTIEUX S., NOIRCLER G. et ULYSSE C., “Development of a hybrid metrology for measuring the nanoparticle size”, 18th European Conference on Analytical Chemistry Euroanalysis, Bordeaux, France, 6-10 septembre 2015.

BOUKELLAL Y., “Integration of a new position sensor based on four quadrant fiber optic bundle to measure the cantilever deflections in atomic force microscopy head”, 17e Congrès inter-national de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

Boukellal Y., “Last advances in the development of the LNE Metrological Atomic Force Microscope”, 17e Congrès inter-national de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

CERIA P., “Estimation of the measurement uncertainty of LNE’s metrological atomic force microscope using virtual instrument modeling and Monte Carlo method”, 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

DUCOURTIEUX S., « Derniers développements du microscope à force atomique métrologique du LNE », 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

OBATON A.-F., “Additive manufacturing and control needs”, 17e Congrès international de métrologie, Paris, France, 21-24 septembre 2015.

FELTIN N., « La métrologie au service de l’évaluation des risques nano : vers une meilleure fiabilité des mesures », Ecole de Giens, INERIS, France, novembre 2015.

SALGADO J., “Data fusion for high precision metrology: a novel fine registration technique”, EUSPEN Micro/Nano Manufac-turing Workshop 2015, Teddington, Royaume Uni, 24-26 novembre 2015.