Les formes asphériques et les surfaces complexes sont une classe très avancée d'éléments optiques. Leur application a considérablement augmenté au cours des dernières années dans les systèmes d'imagerie, l'astronomie, la lithographie, etc. La métrologie de ces pièces est très difficile, en raison de la grande gamme dynamique d'information acquise et la traçabilité à l'unité SI mètre. Elle devrait faire usage de la norme infinie; (Méthode de zone minimum ou la méthode Min-Max) pour calculer l'enveloppe entourant les points dans le jeu de données en réduisant au minimum la différence entre l'écart maximum et l'écart minimal entre la surface et l'ensemble de données. Cette méthode a une grande complexité en fonction du nombre de points, enplus, les algorithmes impliqués sont non-déterministes. Bien que cette méthode fonctionne pour des géométries simples (lignes, plans, cercles, cylindres, cônes et sphères), elle est encore un défi majeur lorsqu' utilisée pour des géométries complexes (asphérique et surfaces complexes). Par conséquent, l'objectif de la thèse est le développement des algorithmes d'ajustement Min-Max pour les deux surfaces asphériques et complexes, afin de fournir des algorithmes de référence robustes pour la grande communauté impliquée dans ce domaine. Les algorithmes de référence à développer devraient être évalués et validés sur plusieurs données de référence (Softgauges) qui seront générées par la suite.

Métrologie dimensionnelle, Algorithmes, Surfaces complexes, Traitement de nuages de points, Fusion de données, Optimisation, Longueur, Mesure, Algorithmes, Optimisation mathématique, Représentation des surfaces

BOUZAKHER N., CHIVAS-JOLY C., DEVOILLE L., HOCHEPIED J. –F., FELTIN N. “Challenges in sample preparation for measuring nanoparticles size by scanning electron microscopy from suspensions”, powder form and complex media, Powder Technology, 359, online 9 October 2019, 226-237, DOI: 10.1016/j.powtec.2019.10.022

CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., POURCHEZ J., LECLERC L., SARRY G., J-M. LOPEZ-CUESTA J-M. “Physical, morphological and chemical modification of Al-based nanofillers in by-products of incinerated nanocomposites and related biological outcome”, Journal of Hazardous Materials, 365, 5 March 2019, 405-412, DOI: 10.1016/j.jhazmat.2018.10.029

CROUZIER L., DELVALLEE A., ALLARD A., DEVOILLE L., DUCOURTIEUX S., FELTIN N. “Methodology to evaluate the uncertainty associated with nanoparticle dimensional measurements by SEM”, Measurement Science and Technology, 30, 28 June 2019, 8, 085004, DOI: 10.1088/1361-6501/ab1495

CROUZIER L., DELVALLEE A., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., NOIRCLER G., ULYSSE C., TACHE O., BARRUET E., TROMAS C., FELTIN N. “Development of a new hybrid approach combining AFM and SEM for the nanoparticle dimensional metrology”, Beilstein Journal of Nanotechnology, 10, 28 july 2019, 1523–1536,DOI: 10.3762/bjnano.10.150

CROUZIER L., DELVALLEE A., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., TROMAS C., FELTIN N. “A new method for measuring nanoparticle diameter from a set of SEM images using a remarkable point”, Ultramicroscopy, 207, December 2019, 112847, DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112847

FELTIN N., DUCOURTIEUX S., L. CROUZIER L., DELVALLEE A., DIRSCHEL K., ZENG G., “Scanning probe microscopy (SPM), “Characterization of Nanoparticles - measurement processes for nanoparticles”, ELSEVIER, 24 September 2019, ISBN: 9780128141823

GUILLORY J., TEYSSENDIER DE LA SERVE M., TRUONG D., ALEXANDRE C. WALLERAND J-P., “Uncertainty Assessment of Optical Distance Measurements at Micrometer Level Accuracy for Long-Range Applications”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 68, June 2019, 6, 2260-2267, DOI:10.1109/TIM.2019.2902804

TOGUEM S-C.T., VISSIÈRE,A., DAMAK M., MEHDI-SOUZANI C., ANWER N., NOUIRA H. “Design of an ultra-high precision machine for form measurement” Procedia CIRP, 84, September 2019, 942-947, DOI:10.1016/j.procir.2019.04.262

VIPREY F., NOUIRA H., LAVERNHE S., TOURNIER C. “Modelling and characterisation of geometric errors on 5-axis machine-tool”, edp Sciences - Mechanics & Industry, 20, 5 September 2019, 6, 605, DOI:10.1051/meca/2019034

DUCOURTIEUX S., “Development of new validation measurements at LNE under Graphene Flagship – Core 2 – Structural characterization of graphene-based materials“ Réunion Graphene Flagship Validation Service, LNE Paris, France, 11 Mars 2019

FLEURENCE N., DELVALLEE A., SCHOPFER F., « Présentation des résultats de mesures par MPTR sur les échantillons GrapheneXT (graphene oxyde deposited on Si wafer) et d’une cartographie en conductivité thermique par SThM d’un flocon de graphène fourni par le VAMAS », Réunion Graphene Flagship Validation Service, Paris, France, 11 mars 2019.

 AREZKI Y., LEPRETRE F., PSOTA P., SU R., HEIKKINEN V., ZHANG X., CAI N., BITOU Y., LEACH R., LÉDL V., ANWER N., MEHDI-SOUZANI C., NOUIRA H. “Material standards design for minimum zone fitting of freeform optics”, EUSPEN 2019, Conference Proceedings - 19th International Conference and Exhibition, Bilbao, Espagne, 3-7 June 2019

TOGUEM S.-C.T., MEHDI-SOUZANI C., ANWER N., NOUIRA H. “Customized design of artefacts for additive manufacturing”, EUSPEN 2019, Conference Proceedings - 19th International Conference and Exhibition, Bilbao Espagne, 3-7 June 2019

OBATON A.-F., BUTSCH B., CARCREFF E., LAROCHE N., TARR J., DONMEZ A., “Efficient volumetric non-destructive testing methods for additively manufactured parts”, the ICWAM, Metz, France, 5-7 June 2019

DUCOURTIEUX S., DELVALLEE A., CERIA P., ULYSSE C., « L’AFM métrologique français : une nouvelle voie de traçabilité pour les mesures dimensionnelles à l’échelle nanométrique », 8^ème Rencontres annuelles en nanométrologie, Paris, France, 17 Juin 2019

KIM F., PINTAR A., FOX J., TARR J., DONMEZ A., OBATON A.-F., “Probability of detection of x-ray computed tomography of additive manufacturing defects”, the QNDE Conference, Portland, OR, USA, 14-18 July 2019

OBATON A.-F., “Overview of the EMPIR project: Metrology for additively manufactured medical implants”, Euspen, Joint Special Interest Group meeting between euspen and ASPE Advancing Precision in Additive Manufacturing, Ecole Centrale de Nantes, France, 16-18 September 2019

MIMOUNE K.: “Evaluation and improvement of localization algorithms based on UWB Pozyx system”, The 27th International Conference on Software, Telecommunications and Computer Networks - SoftCOM 2019 - General Conference, Split, Croatie, 19-21 September 2019

DELVALLÉE A., SCHOPFER F., FLEURENCE N., DELVALLÉE A., DUCOURTIEUX S., MORÁN J., PIQUEMAL F., FELTIN N., “Developing and providing reliable multi-disciplinary measurement methods for graphene and related materials”, 14^th edition of Graphene Week, Helsinki, Finlande, 23-27 September 2019

Ducourtieux S., DELVALLEE A., ULYSSE C., DEVRILLE COTTINI A., BERNARD G., FOUCHER J., “Implementation in France of a traceability chain for dimensional measurements at nanometre scale”, 19^ème Congrès International de Métrologie, Paris France, 24-26 Septembre 2019

DEVOILLE L., LAMBENG N., FELTIN N., FAVRE G., “Characterization by SEM of the Nano fraction of additives products”, 19^ème Congrès International de Métrologie, Paris France, 24-26 Septembre 2019

CROUZIER L., DELVALLEE A., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., FELTIN N.,  “Development of a new hybrid approach combining AFM and SEM for the nanoparticle dimensional metrology”, 19^ème Congrès International de Métrologie, Paris France, 24-26 Septembre 2019

FELTIN N., HODOROABA V-D., CROUZIER L., DELVALLEE A., DUCOURTIEUX S., PELLEGRINO F., MAURINO V., MARGUET S., TESTARD F., TACHE O., “nPSize: a project to improve the traceability chain of nanoparticle size measurements - Preliminary results of the SEM measurements”, 19^ème Congrès International de Métrologie, Paris France, 24-26 Septembre 2019

SCHOPFER F., DUCOURTIEUX S., « Development of new validation services at LNE
under Graphene Flagship – Core 2 », Reunion Graphene Flagship Validation Service , Zaragoza, Espagne, 01 October 2019

CROUZIER L., DELVALLEE A., ALLARD A., DEVOILLE L., DUCOURTIEUX S., TROMAS C., FELTIN N., “Methodology to evaluate the uncertainty associated with nanoparticle dimensional measurements by SEM”, Nanoscale 2019, Braunschweig, Allemagne, 15-16 October 2019

DUCOURTIEUX S., DELVALLEE A., “LNE’s metrological AFM: a new reference for dimensional measurement at the nanoscale in Europe”, Nanoscale 2019, Braunschweig, Allemagne, 15-16 October 2019

AHAMED D., DUCOURTIEUX S., DELVALLEE A., “Minimisation of Abbe error on the LNE’s metrological AFM by alignment of interferometer laser beams using a CCD camera”, Nanoscale 2019, Braunschweig, Allemagne, 15-16 October 2019

DUCOURTIEUX S., DELVALLEE A., ULYSSE C., « Mise en œuvre en France d’une chaîne de traçabilité pour les mesures dimensionnelles à l’échelle nanométrique conduites par AFM et MEB», Workshop Zeiss - La microscopie électronique, ionique et rayons X, C2N Palaiseau, France, 24 Octobre 2019

GUILLORY J., TRUONG D., WALLERAND J-P.: “Assessment of the mechanical uncertainties of a novel and affordable multilateration system”, 3D Metrology conference, Londres, United Kingdom, 5-7 November 2019

MIMOUNE K., GUILLORY J., TRUONG D., WALLERAND J-P., GUIANVARCH C., PLIMMER M.: “Acoustic system for average temperature measurement along a short distance”, 3D Metrology Conference, , Londres, United Kingdom, 5-7 November 2019

 BOUZAKHER GHOMRASNI N., TACHE O., TESTARD F., CHIVAS-JOLY C., « dimensionnelle de nanoparticules de TiO₂ par SAXS et MEB », Giens 2019, Guyancourt, France, 12-15 Novembre 2019

CHIVAS-JOLY C., BOUZAKHER GHOMRASNI N., DEVOILLE L., HOCHEPIED J. –F., FELTIN N., “Challenges in sample preparation for measuring nanoparticles size by scanning electron microscopy from suspensions, powder form and complex media”, Giens 2019. Guyancourt France, 12-15 Novembre 2019

DELVALLEE A., CROUZIER L., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., TROMAS C., FELTIN N., « Développement d’une nouvelle approche hybride combinant AFM ET MEB pour la métrologie dimensionnelle des nanoparticules», GIENS 2019, Guyancourt, France, 12-15 Novembre 2019

À l'heure où les nanotechnologies sont en plein essor, la précision des mesures réalisées à l'échelle nanométrique devient un défi essentiel pour améliorer les performances et la qualité des produits intégrant des nano. Pour répondre aux besoins sous-jacents en nanométrologie dimensionnelle, le Laboratoire National de métrologie et d'Essais (LNE) a conçu intégralement un Microscope à Force Atomique métrologique (mAFM). Son objectif principal est d'assurer la traçabilité au mètre défini par le Système International d'unités (SI) pour les mesures à l'échelle nanométrique. Pour cela, le mAFM utilise quatre interféromètres différentiels qui mesurent en temps réel le déplacement relatif de la pointe par rapport à l'échantillon. Cet instrument de référence est destiné à l'étalonnage d'étalons de transfert couramment utilisés en microscopie à champ proche (SPM) et en microscopie électronique à balayage (SEM). Lors de ce processus, une incertitude de mesure est évaluée. Elle détermine un niveau de confiance de l'étalonnage réalisé par le mAFM. Cette incertitude est généralement évaluée grâce à des mesures expérimentales permettant de déterminer l'impact de certaines sources d'erreur qui dégradent les mesures à l'échelle du nanomètre. Pour d'autres sources d'erreur, leur évaluation reste complexe ou expérimentalement impossible. Pour surmonter cette difficulté, le travail de thèse a consisté à mettre en place un modèle numérique de l'instrument nommé « AFM virtuel ». Il permet de prévoir l'incertitude de mesure du mAFM du LNE en ciblant les sources critiques d'erreur grâce à l'utilisation d'outils statistiques tels que la Méthode de Monte Carlo (MCM), les plans de Morris et les indices de Sobol. Le modèle utilise essentiellement la programmation orientée objet afin de prendre en compte un maximum d'interactions parmi les 140 paramètres d'entrée, en intégrant des sources jusqu'ici négligées ou surestimées par manque d'informations.

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Le principe de la métrologie en cours d’usinage est d'obtenir des données de mesure directement dans le flot de production. Ce principe fait suite au besoin croissant des industriels de réaliser des mesures en ligne durant une opération ou entre deux opérations d'usinage, en employant le moyen de production pour mesurer la pièce usinée. La maîtrise des sources d’erreur de mesure, telles que les erreurs géométriques, est une condition sine qua non pour garantir la métrologie dimensionnelle traçable directement sur les machines-outils. Ces travaux portent sur la modélisation géométrique de machine-outil 5 axes, basée sur une paramétrisation normalisée des erreurs géométriques. Ce modèle est simulé et simplifié par l’utilisation d’une machine virtuelle développée comme un outil d’aide à la compréhension et à la visualisation des effets des erreurs géométriques sur l’erreur volumétrique. Un nouvel étalon matériel thermo-invariant a été développé : la Multi-Feature Bar. Raccordé à la définition internationale du mètre par un étalonnage et une intercomparaison européenne, il permet d’envisager des mesures traçables sur machine-outil dans un environnement hostile. L’identification de trois paramètres intrinsèques à cet étalon, couplée à une procédure de mesure, assure une identification complète et traçable des erreurs de mouvement d’axes linéaires. Suite à cela, l’identification des erreurs entre axes est quant à elle basée sur une analyse de combinaisons de paramètres suffisants pour caractériser au mieux l’erreur volumétrique. Une procédure d’identification des paramètres du modèle est proposée en minimisant la dérive temporelle de la structure ainsi que les effets des erreurs de mouvement précédemment identifiées. Une analyse de sensibilité des paramètres de réglages de la procédure de mesure ainsi que des effets de bruits permet de garantir la qualité de l’identification proposée.

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L’objectif de cette thèse est de contribuer à la détection de défauts dans des pièces réalisées par le procédé de fabrication additive de déposition métallique par laser (DML), en vue d’un contrôle in-situ. Le contrôle in-situ envisagé porte sur les derniers cordons déposés par le procédé (acier 316L et Inconel 718), pour lesquels des porosités et fissures peuvent apparaître (~ 100 µm). L’inspection est effectuée par méthode ultrasons-laser (UL), c’est-à-dire tout optique et non intrusive (régime thermoélastique). Le procédé DML engendre une microstructure dite à gros grains et des rugosités de surface qui rendent le contrôle ultrasonore plus délicat. En effet, ces caractéristiques microstructurales provoquent la diffusion des ondes élastiques dans le milieu. Ce travail de thèse participe donc à la compréhension de ces phénomènes et de leurs influences pour mieux détecter des défauts subsurfaciques dont les dimensions sont proches des longueurs d’ondes acoustiques. Ainsi, l’inspection en surface a été optimisée par la conception d’un montage optique, permettant de favoriser la génération de l’onde de Rayleigh, par une ligne source laser fine (~200 µm) et présentant des fronts raides. En conséquence, le contenu spectral de l’onde a été augmenté vers les hautes fréquences, c’est-à-dire jusqu’à 10 MHz. La longueur d’onde de Rayleigh (λR) a pu être ainsi diminuée à une valeur proche de celle des défauts recherchés, de l’ordre de 700 µm. Ensuite, les limites de ce dispositif ont été mises en évidence sur des pièces fabriquées par le procédé DML. Ces pièces comportent des défauts usinés, des entailles et des trous génératrice dont les dimensions sont inférieures à λR, leur surfaces est rugueuse (diffraction multiple de l’onde de Rayleigh). Puis, l’inspection de défauts réels subsurfaciques est étudiée. Ces défauts sont créés soit par une variation d’un des paramètres du procédé, le hatch (distance inter-cordon), ou encore par l’utilisation d’une poudre métallique de mauvaise qualité. En dégradant volontairement ces paramètres, les échantillons présentent alors des taux de porosités (Φ) pouvant s’étendre de 0,5% à 10%. Enfin, deux méthodes de corrélations ont été exploitées pour discriminer les taux de porosités : à travers l’étude du degré de ressemblance et l’Analyse en Composantes Principales (ACP). La première méthode, simple et rapide à mettre en œuvre, ne permet cependant pas de distinguer les taux de porosités. En revanche, l’ACP indique qu’il est possible de discriminer tous les défauts. Pour finir, des tests préliminaires ont été effectués afin de montrer qu’il est possible d’effectuer des mesures par méthode UL sur surface rugueuse, tout en conservant un bon rapport signal sur bruit, et ce sans moyenner les signaux, au cours d’un déplacement robotisé.

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BOUDERBALA K., NOUIRA H., VIDECOQ E., GIRAULT M. AND PETIT D., “MIM, FEM and experimental investigations of the thermal drift in an ultra-high precision set-up for dimensional metrology at the nanometre accuracy level”, Applied Thermal Engineering, 24, 2016,  491-504, DOI: 10.1016/j.applthermaleng.2015.09.092

BOUDERBALA K.  AND NOUIRA H., “FEM and experimental investigation of the thermal drift in ultra-high precision measuring machines for dimensional metrology”, Measurement, 90, 2016, 250-264, DOI: 10.1016/j.measurement.2016.04.064

BOUDERBALA K., NOUIRA H., VIDECOQ E., AND GIRAULT M., “Experimental thermal regulation of an ultra-high precision metrology system by combining Modal Identification Method and Model Predictive Control”, Applied Thermal Engineering (IF: 3.043), 104, 2016, 504-515, DOI: 10.1016/j.applthermaleng.2016.05.085

BOSCHER N., OBATON A.-F., CHOQUET P., AND DUDAY D., “Liquid-assisted plasma-enhanced chemical vapor deposition of α-Cyclodextrin/PDMS composite thin film for the preparation of interferometric sensors – Application to the detection of benzene in water” Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 16, 2016, 10097-10103, DOI: 10.1166/jnn.2016.12846

DUBARD J., GUIMIER S., VALIN T. ET OBATON A. F. ET BUTEAU F., « Spectroradiométrie UV : application au contrôle des cabines de bronzage », RFM, 42, 2016, 45-54, DOI : 10.1051/rfm/2016010

GUILLORY J., SMID, R.  GARCIA-MARQUEZ J., TRUONG D., ALEXANDRE C. ET. WALLERAND J-P, “High resolution kilometric range optical telemetry in air by RF phase measurement”. Review of Scientific Instruments, (RSI),  87, issue 7, Juillet 2016, DOI: 10.1063/1.4954180

OBATON A.-F., « Contrôles et mesures, un nouvel enjeu pour la fabrication additive », magazine a3Dm, 1, 2016,  32-34

OBATON A.-F, « La maîtrise du processus de fabrication additive est un véritable enjeu pour les industriels », Tribune de L’Usine Nouvelle, publié le 27 mars 2016.

OBATON A.-F., « Les ondes térahertz, une alternative prometteuse aux méthodes classiques de CND », magazine a3Dm, 3, 2016,  48-50,

OBATON A.-F., « Maitrise du processus de fabrication additive : un véritable enjeu pour les industriels », Enjeux, 367, 2016, 09

PERRAUD J.B., OBATON A.F., BOU-SLEIMAN J., RECUR B., BALACEY H., DARRACK F.,  GUILLET J.P. AND MOUNAIX P., “THz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects”, Applied Optics, 55, Issue 13, 2016, 3462-3467 , DOI: 10.1364/AO.55.003462

RENARD P., OBATON A.-F., « Quels enjeux métrologiques pour la fabrication additive ? », DeviceMed, publié le 26 avril 2016.

SANDERS R., NOUIRA H., ANWER N., MEHDI-SOUZANI C., “Improved curvature-based registration methods for high-precision dimensional metrology”, Journal of the International Societies for Precision Engineering and Nanotechnology, 46,  2016,  232-242, DOI: 10.1016/j.precisioneng.2016.05.002

VIPREY F., NOUIRA H., LAVERHNE S.  AND TOURNIER C., “Novel multi-features bar design for machine tools geometric errors identification”, Journal of the International Societies for Precision Engineering and Nanotechnology, 46, 2016, 323-338, DOI: 10.1016/j.precisioneng.2016.06.002

ZAWRAHA M. F., GADO R. A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L. « Recycling and utilization assessment of waste fired clay bricks (Grog) with granulated blast-furnace slag for geopolymer production », Process Safety and Environmental Protection, 103, Part A, 2016, 237-251 DOI: 10.1016/j.psep.2016.08.001

FELTIN N., « CARMEN: Développement d’une plate-forme dédiée à la métrologie des nanoparticules », Réseau Publique des Contaminants, INERIS, Janvier 2016.

RANTOSON R., NOUIRA H., ANWER N., MEHDI-SOUZANI C., “Curvature Based-Methods for Automatic Coarse and Fine Registration in Dimensional Metrology”, 18th International Conference on Precision Engineering, Dubai, UAE 28 - 29 January 2016

BOUDERBALA K., NOUIRA H., VIDECOQ E., GIRAULT M., PETIT D.,” MIM and Experimental Studies of the Thermal Drift in an Ultra-High Precision Instrument for Dimensional Metrology”, 18th International Conference on Precision Engineering, Dubai, UAE 28 - 29 January 2016.

VIPREY F., NOUIRA H., LAVERHNE S.  AND TOURNIER C., “Novel Hole-Bar Standard Design and Inter-Comparison for Geometric Errors Identification on Machine-Tool,” ICPE 2016: 18th International Conference on Precision Engineering, Dubai, UAE 28 - 29 January 2016.

OBATON A.-F., « Les contrôles pour la fabrication additive », APS Meetings, Lyon, France, 3 et 4 février 2016

Y. BOUKELLAL, S. DUCOURTIEUX AND P. CERIA « Last advances in the development of the LNE metrological atomic force », Nanoscale, Wroclaw, Pologne, 9-11 mars 2016.

Y. BOUKELLAL, S. DUCOURTIEUX AND P. CERIA « Last advances in the development of the LNE metrological atomic force », Nanoscale, Wroclaw, Pologne, 9-11 mars 2016.

S. DUCOURTIEUX ET AL. « Intercomparison on AFM and SEM measurements of 2D gratings organized in the frame of the French Nanometrology club », Nanoscale, Wroclaw, Pologne, 9-11 mars 2016.

S. DUCOURTIEUX ET AL. « Modeling of a metrological AFM interferometric position measurement system to determine its measurement uncertainty », Nanoscale, Wroclaw, Pologne, 9-11 mars 2016.

VIPREY F., NOUIRA H., LAVERHNE S.  AND TOURNIER C., “Inter-comparison on multi-feature bar calibration for determining machine-tool geometric errors”, Lamdamap 12th International Conference and Exhibition, Renishaw Innovation Centre, UK, 15th - 16th March 2016

GUILLORY J., WALLERAND J-P., TRUONG D., ALEXANDRE C. ET SMID R., “Kilometric-range distance measurements with air refractive index compensation”. 3rd Joint International Symposium on Deformation Monitoring (JISDM), Vienne, Autriche, 30 March - 1 April 2016

POLLINGER F., ASTRUA M., BAUCH A., BERGSTRAND S., BHATTACHARYA N., BOSNJAKOVIC A., EUSEBIO L., FRANCESE C., B. ORRES G., GUILLORY J., HIETA T., HOMANN C., JOKELA J., KALLIO U., KERSTEN T., KOIVULA H., KRAWINKEL T., KUHLMANN H., KUPKO V., LESUNDAK A., LEUTE J., MARQUES F., MEINERS-HAGEN K., MERIMAA M., MILDNER J., NIEMEIER W., NEYEZHMAKOV P., PELLEGRINO O., PIRES C., POUTANEN M., SARAIVA F., SCHÖN S., TENGEN D., VAN DEN BERG S. A., WALLERAND J-P., ZIMMERMANN F.  ET ZUCCO M., “JRP SIB60, “Metrology for Long Distance Surveying” - a Concise Survey on Major Project Results”. 3rd Joint International Symposium on Deformation Monitoring (JISDM), Vienne, Autriche, 30 March - 1 April 2016,

OBATON A.-F, SABLAN B., « Quels sont les enjeux métrologiques dans la fabrication additive ?  », Webinar, 1 avril 2016.

WALLERAND J-P., GUILLORY J., TRUONG D., ALEXANDRE C., « Air index compensation for absolute distance measurements », workshop luminar, Teddington, NPL, 18 Mai 2016

FELTIN N. « Nanométrologie : vers une fiabilisation des mesures de nanoparticules », NanoMines, mai 2016.

DEVOILLE L., « Mesure de taille de nanoparticules en solution par DLS », Nanomines, Mai 2016.

GUILLORY J., TRUONG D., ALEXANDRE C., AZOUIGUI S., ET WALLERAND J-P., “Télémétrie optique à deux Longueurs d’onde”, Journée du Club Optique et Micro-ondes (JCOM), Nice, 10 Juin 2016

ZONGO F., OBATON A.-F., BAUSTERT E., « Recherche de méthodes de routine pour caractériser les pièces personnalisées réalisées en masse par fabrication additive », Assises Européennes de la fabrication additive de l’AFPR, Chatenay Malabry, France, 21-23 juin 2016

DUCOURTIEUX S. « Développement de substrats marqués pour la relocalisation de nanoparticules sur différents microscopes (AFM, MEB) », Journée thématique repositionnement Relocalisation, Institut Pasteur, Paris, France, 29 juin 2016.

PERRAUD J.B., OBATON A.F., BOU-SLEIMAN J., RECUR B., BALACEY H., DARRACQ F., GUILLET J.P. AND MOUNAIX P,"Tomography and image processing for polymer additive manufacturing characterization”, 41st International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Copenhagen, Denmark, 25-30 September 2016.

OBATON A.-F., « La fabrication additive et les nouveaux défis pour la mesure de pièces », Micronora, Besançon, 27 au 29 septembre 2016.

FELTIN N., FAVRE G., DEVOILLE L., CHIVAS C., BEN DIHAB I., « Métrologie des nanomatériaux dans les matrices alimentaires », R31, Septembre 2016.

FELTIN N., BEN DIHAB I., CHIVAS C., DEVOILLE L., « Caractérisation de nano-particules au sein de matrices alimentaires », DIM Analytics, Octobre 2016.

OBATON A.-F., « Contrôle : nouvel enjeu pour la fabrication additive », 3D Print, Lyon, 4 et 5 octobre 2016. Table ronde

PERRAUD J.B., OBATON A.F., BOU-SLEIMAN J., RECUR B., BALACEY H., DARRACQ F., GUILLET J.P. AND MOUNAIX P., "Tomography and image processing for polymer additive manufacturing characterization”, 8th International Symposium on Ultrafast Phenomena and Terahertz Waves, Chongqing, China, 10-12 October 2016.

FELTIN N., « Améliorer la faisabilité industrielle de la production des nanomatériaux : mise à la disposition des PME d’outils méthodologiques pour la caractérisation métrologique des nano-objets », NANOSAFE, Novembre 2016.

DEVOILLE L., « NANOMET : Améliorer la faisabilité industrielle de la production des nanomatériaux », NANOSAFE, Novembre 2016.

FELTIN N., LEPAGE H., « NANOMET: Besoins des PME concernant les mesures de nanomatériaux », NANOSAFE, Novembre 2016.

OBATON A.-F., « Fabrication additive et tomographie », JT AIP-PRIMECA, Cachan, 1 décembre 2016.

FELTIN N., BEN DIHAB I., CHIVAS C., DEVOILLE L., FAVRE G., « réglementation (alimentaire, cosmétique etc.) - Focus sur les besoins en caractérisation », 6^ème rencontres du club nanométrologie, Paris, France, 1^er décembre 2016.

DEVOILLE L. « Bilan du projet NANOMET », 6^ème rencontres du club nanométrologie, Paris, France, 1^er décembre 2016.

FELTIN N. « La métrologie des nanoparticules : vers une fiabilisation des mesures », Eurolab, Décembre 2016.

AROKIARAJ M.C., MENESSON E. and FELTIN N., ”Magnetic iodixanol – a novel contrast agent and its early characterization”, JMV-Journal de Médecine Vasculaire, 43, Issue 1, February 2018, Available online 18 December 2017, 10-19, DOI: 10.1016/j.jdmv.2017.11.002

CERIA P., DUCOURTIEUX S., BOUKELLAL Y., ALLARD A., FISCHER N. and FELTIN N., “Modelling of the X,Y,Z positioning errors and uncertainty evaluation for the LNE’s mAFM using the Monte Carlo method”, Measurement Science and Technology, 28, Janvier 2017, 034007; DOI: 10.1088/1361-6501/28/3/034007

DEVOILLE L., REVEL M., BATANA C., FELTIN N., GIAMBERINI L., CHATEL A., MOUNEYRAC C., “Combined influence of oxygenation and salinity on aggregation kinetics of the silver reference nanomaterial NM-300K”, Environmental Toxicology and Chemistry, 37, Issue4, 2017, 1007-1013, DOI: 10.1002/etc.4052

FELTIN N., DUCOURTIEUX S. and DELVALLEE A., “Metrology for the Dimensional Parameter Study of Nanoparticles: Protocols and Industrial Innovations”, In book: Metrology and Standardization of Nanotechnology, Janvier 2017, 197-210, DOI: 10.1002/9783527800308.ch10

OBATON, A.-F., FAIN J., DJEMAÏ, M., MEINEL, D., LÉONARD, F., MAHÉ,  E., LÉCUELLE, B., FOUCHET, J.-J., BRUNO, G. “In vivo XCT bone characterization of lattice structured implants fabricated by additive manufacturing”, Heliyion , 3, 8, august 2017,e00374, DOI: 10.1016/j.heliyon.2017.e00374

OBATON A-F, “Non-destructive volumetric control of additive manufactured parts: alternatives methods to X-ray tomography”, Special interest Group Meeting: Quality control for Additive Manufacturing, Euspen, 23^rd- 24^th January, Coventry 2017.

YASSIR AREZKI, CHARYAR MEHDI SOUZANI, XIANGCHAO ZHANG, NABIL ANWER HICHEM NOUIRA, présentation orale, « Recalage de données dense basé sur l'exploitation innovante des caractéristiques de courbures pour la métrologie dimensionnelle », Journées du Groupe de Travail en Modélisation Géomlètrique (GTMG), ENS Paris-Saclay, Cachan, 22-23 mars

OBATON A-F, “Overview of the European project MetAMMI : Metrology for additively manufactured medical implants”, CAM Young Ceramists Additive Manufacturing Forum, 23^rd – 24^th march, Berlin

FELTIN N., « Atelier : Atelier Catégoriser les nanomatériaux ? », NanoLille : Productions, activités et usages des « nanos » : les conditions de la confiance, mars 2017.

FELTIN N., FAVRE G., DEVOILLE L., « Analysis of NM in food products », Symposium JRC-DG SANTE Nanomaterials in Food - Reliability of measurement results (ISPRA), Avril 2017.

A-F. OBATON, M-Q. LÊ,B, V. PREZZA, D. MARLOT, P. DELVART, A. HUSKIC, S. SENCK, E. MAHÉ, C. CAYRON, “Investigation of new volumetric non-destructive techniques to characterise additive manufacturing parts” Proc. ICAM Metz, 17^th-19^th May,

 AREZKI, Y., MEHDI-SOUZANI, C., ZHANG, X., ANWER, N., NOUIRA, H. “A comparative study of curvature-based registration methods for dimensional metrology”, EUSPEN 17th international conference, Hannovre, Allemagne, 29 mai- 2 juin

WALLERAND J-P., presentation orale: “development of a new long range telemeter”, workshop “trends and developments in laser based distance metrology”, Lorentz Center, Leiden, Pay-Bas, du 29 mai au 2 juin 2017.

WALLERAND J-P., presentation orale: “Characterization of FP cavity for refractivity applications”, workshop trends and developments in laser based distance metrology, Lorentz Center, Leiden, Pays-Bas, du 29 mai au 2 juin 2017.

GUILLORY J., presentation orale: “Absolute distance measurements by two-colour systems: progress in the realization of the CNAM telemeter”, workshop “trends and developments in laser based distance metrology, Lorentz Center, Leiden, Pays-Bas, du 29 mai au 2 juin 2017.

CERIA P., DUCOURTIEUX S. « Développement d’un AFM virtuel pour l’évaluation du bilan d’incertitude de l’AFM métrologique du LNE » LIST (Luxembourg), 16 juin 2017.

OBATON A-F, CAYRON C., “Contrôle pièces”, Assise européen de la Fabrication additive, Chatenay-Malabry, 27-29 juin 2017

FELTIN N., « Table ronde : méthodes de métrologie », Journée d’atelier scientifique – Développement des nanomatériaux : évaluation et gestion des risques sanitaires et environnementaux, actualité des problèmes industriels, Institut Pasteur, juin 2017.

FELTIN N., « Métrologie dimensionnelle des nanoparticules et la plate-forme CARMEN », Observatoire des Micro- et Nanotechnologies, septembre 2017.

FELTIN N., « Table ronde : Quel progrès en mesure à l'échelle nano ? », CIM 2017, Paris (France), 19-21 septembre 2017.

DUCOURTIEUX S. « Validation of the French metrological Atomic Force Microscope for dimensional nanometrology applications », CIM 2017, Paris, France, 21 septembre 2017.

GUILLORY J., presentation orale: “Arpent: a new high accuracy long-range Absolute Distance Meter”, Conférence macroscale 2017, Espoo, Finland, 17-19 octobre 2017.

YASSIR AREZKI, presentation orale “Evaluation of Minimum Zone Fitting Algorithms for Accurate Metrology of Aspherical Surfaces”, 7th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN 2017), Séoul 14-17 Novembre 2017

HICHEM NOUIRA, presentation orale, “Thermal Drift Control of a Dimensional Metrology System at the Nanometer Level of Accuracy”, 7th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN 2017), Séoul, 14-17 Novembre 2017

FELTIN N., DEVOILLE L. ET FAVRE G., « Plate-forme CARMEN : métrologie des nanoparticules dans les matrices alimentaires », SFN, Novembre 2017.

FELTIN N., « La métrologie des nanoparticules : un défi pour le développement des nanotechnologies et des nanomatériaux », Institut des Nanotechnologies de Lyon, Novembre 2017

FELTIN N., DEVOILLE L., FAVRE G., « Development of a metrologically validated SEM based method to characterize nanoparticles size: application to different additives under the nanoform contained in food and cosmetics products », 2nd European workshop on the analysis of nanoparticles in food, cosmetics and consumer products, RAFA 2017, Prague, 7-10 novembre 2017

AREZKI Y, ZHANG X, MEHDI-SOUZANI C, ANWER N, NOUIRA H, “Investigation of minimum zone assessment methods for aspheric shapes”, Precision Engineering, 52, 2018, 300-307, DOI: 10.1016/j.precisioneng.2018.01.008

AREZKI Y, NOUIRA H, ANWER N, MEHDI-SOUZANI C, “A novel hybrid trust region minimax fitting algorithm for accurate dimensional metrology of aspherical shapes”, Measurement, 127, 2018, 134-140, DOI: 10.1016/j.measurement.2018.05.071

AREZKI Y, MEHDI-SOUZANI C, ANWER N, NOUIRA H, “Reference data simulation for L∞ fitting of aspheres”, Procedia CIRP, 75, 2018,  331-336, DOI: 10.1016/j.procir.2018.04.051

AROKIARAJA Z., MENESSONB E., FELTIN N., “Magnetic iodixanol - a novel contrast agent and its early characterization”, JMV, 43, 2018, 10, DOI: 10.1016/j.jdmv.2017.11.002

CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., POURCHEZ J., LECLERC L., SARRY G., LOPEZ CUESTA J-M., “Physical, morphological and chemical modification of nanofillers in by-products of incinerated nanocomposites and related biological outcome”, Journal of Hazardous Materials, 365, 2018, 405-412 DOI:  10.1016/j.jhazmat.2018.10.029

DELATOUR V, VASLIN-REIMANN S., OBATON A.F., AVRIN G. « Retour sur 10 ans de progrès médical grâce à la métrologie » Devicemed, 6, 2018, 20-21

MANGIN R., VAHABI H., SONNIER R., CHIVAS-JOLY C., LOPEZ CUESTA J-M., COCHEZ M., “Improving the resistance to hydrothermal ageing of flame-retarded PLA by incorporating miscible PMMA”, Polymer Degradation and Stability, 155, 2018, 52, DOI: 10.1016/j.polymdegradstab.2018.07.008

MILLON C., VANHOYE A., OBATON A-F., PENOT J-D., “Development of laser ultrasonics inspection for online monitoring of additive manufacturing”, Welding in the World, 62, Issue 3, 2018, 653-661, DOI: 10.1007/s40194-018-0567-9

MILLON C., VANHOYE A., OBATON A-F., « Ultrasons laser pour la détection de défauts sur pièces de fabrication additive métallique », Photoniques, 94, 2018, 34-37

OBATON A-F., LÊ M-Q., PREZZA V., MARLOT D., DELVART P., HUSKIC A., SENCK S., MAHÉ E., CAYRON C., “Investigation of new volumetric non-destructive techniques to characterise additive manufacturing parts”, Welding in the World, 62, Issue 5, 2018, 1049-1057, DOI: 10.1007/s40194-018-0593-7

POURCHEZ J., CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., LECLERC L., SARRY G., LOPEZ CUESTA J-M., “End-of-life incineration of nanocomposites: new insights on nanofillers partitioning into by-products and biological outcomes of airborne emission and residual ash”, Environmental Science: Nano, issue 8 ,2018, 42, DOI: 10.1039/C8EN00420J

TEYSSENDIER DE LA SERVE M., WALLERAND., J.-P., GUILLORY J., TRUONG D., ALEXANDRE C., CALI J., DURAND S, « Arpent : un prototype de haute exactitude pour les mesures de grande distance », Revue xyz, 154, 1er trimestre 2018.

VIPREY F.,· NOUIRA H., LAVERNHE S., TOURNIER C., “Exploitation of a novel thermo-invariant multi-feature bar for high-precision CMMs and machine tool testing”, The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 96, 2018, 947-961, DOI: 10.1007/s00170-017-1572-7

LONGUET C., CHIVAS-JOLY C., POURCHEZ J., « Besoin de métrologie et protocoles expérimentaux robustes visant à mesurer les nanoparticules en milieux dit «simples » et en milieux dit «complexes», Journée ADEME 2018

MOTZKUS C., GAIE-LEVREL F., FELTIN N., JI Y., HA TL., DELABY S., “Particle release study during TiO2 nano-additived paints aging”, ASFERA2018, DOI: 10.25576/ASFERA-CFA2018-12903

FELTIN N., DEVOILLE L., FAVRE G., « Plate-forme CARMEN : métrologie des nanoparticules dans les matrices alimentaires », Fonds Français pour l’Alimentation et la Santé, 2018

MOTZKUS C., GAIE-LEVREL F., FELTIN N., JI Y. ET DELABY S., « Etude du relargage particulaire lors du vieillissement de peintures nano-additivé de dioxyde de titane », 31ème Congrès Français sur les aérosols, Paris, 30-31 janvier2018

DEVOILLE L., « Mesures de nanoparticules dans les produits alimentaires : Techniques analytiques », , GT Nanos et alimentations, ANSES, janvier 2018

DUCOURTIEUX S., MALESYS V., RAMIANDRISOA L., JOUMANI Y., DELVALLÉE A., FELTIN N., HAY B., « Towards characterization of graphene using hybrid metrology approach at LNE », Imaginenano, Bilbao, Spain, 13-15 March, 2018.

CROUZIER L., DELVALLEE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., ULYSSE C., TROMAS C., “Développement d’une métrologie hybride combinant AFM et SEM pour la mesure des propriétés dimensionnelles des nanoparticules”, Forum des microscopes à sondes locales, La Rochelle, 19-23  mars 2018

CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., POURCHEZ J., SARRY G., LECLERC L., DELCOUR S., LOPEZ-CUESTA J-M., “Incineration of selected nanofillers used as additives for EVA-matrix nanocomposites”, ECOFRAM, Metz (France), 28 - 29 march2018

OBATON A-F., KIM F., BUTSCH B. FROM TMS, TARR J., DONMEZ A., “Measurements by Resonant Acoustic Method (RAM) and X-ray tomography (XCT) of the Cr-Co star artefacts”, ISO/TC261 –ASTM/F42-JG59 « NDT for AM parts » meeting, Johns Hopkins University, USA, April 2018

MOTZKUS C., GAIE-LEVREL F., FELTIN N., JI Y., HA TL., DELABY S., “Particle release study during TiO₂ nano-additived paints aging”, 5th Working & Indoor Aerosols Conference, Cassino (Italie), 18-20 April 2018

CROUZIER L., DELVALLÉE A., FELTIN N., DUCOURTIEUX S., DEVOILLE L., NOIRCLER G., ULYSSE C., TACHÉ O., BARRUET E., « Development of a hybrid metrology combining AFM and SEM techniques for measuring the characteristic dimensions of a nanoparticle population”, BAM-PTB Workshop on Reference Nanomaterials , Current situation and needs: development, measurement, standardization, Berlin, 14-15 may 2018

OBATON A-F., KIM F., TARR J., DONMEZ A. AND BUTSCH B. from TMS, “Non-destructive testing of additively manufactured metal test artifacts”, QNDE2018 (Quantitative Non Destructive Evaluation), Burlington, Vermont, USA, June 2018

AREZKI Y., MEHDI-SOUZANI C., NOUIRA H., ANWER N., “A hybrid trust region algorithm for minimum zone fitting of FreeForm surfaces”, 18th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2018; p495-496, Venice, 4-8 June 2018

CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., POURCHEZ J., SARRY G., LECLERC L., DELCOUR S., LOPEZ-CUESTA J-M. “Investigations of the hazard assessment of selected nano-objects used as additives for EVA-matrix nanocomposites”, Nanotech, Paris, France, 27-29 juin 2018

DUCOURTIEUX S., “Toward high precision position control using laser interferometry: main sources of error”, Keynote talk at MEDSI (10th edition of the Mechanical Engineering Design of Synchrotron Radiation Equipment and Instrumentation), Paris, 28 juin 2018

SILVESTRI Z., BOINEAU F., OTAL P., WALLERAND J- P., “Helium-based refractometry for pressure measurements in the range 1-100 kPa”, poster CPEM 2018, Paris, 8-13 juillet 2018.

GUILLORY J., TRUONG D., ALEXANDRE C., WALLERAND J–P., “A prototype of high accuracy telemeter for long range application”, poster CPEM 2018, Paris, 8-13 juillet 2018.

DUCOURTIEUX S., “Toward high precision position control using laser interferometry: main sources of error”, présentation au Synchrotron Soleil, Saint-Aubin (France), 18 septembre 2018.

DUCOURTIEUX S., “validation du microscope à force atomique métrologique français pour des applications de nanométrologie dimensionnelle”, Salon Micronora, Besançon, 26 septembre 2018

OBATON A-F., BUTSCH B., MCDONOUGH S., CARCREFF E., LAROCHE N., GAILLARD Y., TARR J., BOUVET P., CRUZ R., DONMEZ A., “Evaluation of non-destructive volumetric testing methods for additively manufactured parts”, ASTM Symposium on Structural Integrity of AM Parts, Washington DC, USA, Nov. 7-8, 2018

OBATON A-F., BUTSCH B., MCDONOUGH S., CARCREFF E., LAROCHE N., GAILLARD Y., TARR J., BOUVET P., CRUZ R. AND DONMEZ A., "Evaluation of non-destructive volumetric testing methods for additively manufactured parts", ASTM Symposium on Structural Integrity of AM Parts, Washington DC, USA, 7-8 Nov. 2018.

CHIVAS-JOLY C., LONGUET C., POURCHEZ J., SARRY G., LECLERC L., DELCOUR S., LOPEZ-CUESTA J-M., “Investigations of the hazard assessment of selected nano-objects used as additives for EVA-matrix nanocomposites”, NanoSafe, Grenoble, 5 - 9 novembre 2018

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Noise sensitivity of an atomic velocity sensor - theoretical and experimental treatment”, The European Physical Journal D, 33, 2, mai 2005, 173.

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “A promising method for the measurement of the local acceleration of gravity using Bloch oscillations of ultracold atoms in a vertical standing wave”, Europhysics Letters, 71, 5, septembre 2005, 730.

DU BURCK F., DAUSSY C., AMY-KLEIN A., GONCHAROV A. N., CHARDONNET C. et WALLERAND J.-P., “Frequency measuremnt of an Ar+ laser stabilized on narrow lines of molecular iodine at 501,7 nm”, IEEE transactions on instrumentationand measurement, 54, 2, avril 2005.

LAHOUSSE L., DAVID J., LELEU S., VAILLEAU G.-P. et DUCOURTIEUX S., « Application d’une nouvelle conception d’architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique », Revue française de métrologie, 4, Vol. 2005-4, 35-43.

ROVERA G. D. et WALLERAND J.-P., « Impulsions lumineuses ultra courtes pour la métrologie des fréquences », Images de la physique, Ed. du CNRS, 2005.

JUNCAR P., « Métrologie Laser », Séminaire invité au Laboratoire de Photonique et de Nanostructure (LPN), Marcoussis, France, 9 mars 2005.

GUELLATI-KHELIFA S., « Mesurer avec les atomes froids », Musée des Arts et Métiers, Paris, France, 17 avril 2005.

LAHOUSSE L., LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., DUHEM S., DAVID J., SALGADO J. et VAILLEAU G.-P., “The LNE’s nanometrology research and development program”, EUSPEN, 10 mai 2005, Conférence 5, 1, 131-134, Montpellier, France.

GUELLATI-KHELIFA S., CLADE P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms: a tool for h/mRb measurement”, European Quantum Electronics (EQEC'05), Munich, Allemagne, 12-17 juin, 2005.

CHASSAGNE L., TOPÇU S., ALAYLI Y., JUNCAR P., LERONDEL G., BLAIZE S., BRUYANT A., STEFANON I. et ROYER P., “Near field characterization of millimeter long wave guiding structures using a high accuracy optoelectronic control system holding the sample”, 17^th International Conference on Photonics in Europe, SPIE, Optical Metrology, Munich, Allemagne, 13-17 juin 2005.

GUELLATI-KHÉLIFA S., CLADÉ P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms : a tool  for h/mRb measurement”, 17^th International Conference on laser spectroscopy (ICOLS'05), Ecosse, 19-24 juin 2005.

GUELLATI-KHELIFA S., « Immobiliser les atomes pour mieux les interroger », Palais de la découverte, Paris, France, 22 novembre 2005.