Liste des références des publications et communications du RNMF parues en 2010 dans le domaine « Métrologie générale et Mathématiques-Statistiques »

Publications

ALLARD A., FISCHER N., DIDIEUX F., GUILLAUME E. et IOOSS B., “Evaluation of the most influent input variables on quantities of interest in a fire simulation”, Journal de la SFdS, à paraître.

DEMEYER S., FISCHER N. et SAPORTA G., “Contributions to Bayesian Structural Equation Modelling”, COMPSTAT’2010, Physica Verlag Heudelberg, ed. Lechevallier Y. & Saporta G., ISBN: 978-3-7908-2603-6, 2010, 469-476.

DEMEYER S., FOULLEY J.-L., FISCHER N. et SAPORTA G., “Bayesian analysis of structural equation models using parameter expansion”, Chapman&Hall/CRC, 2011, à paraître.

Communications

HIMBERT M., “Traceability to SI units in a near future”, (invited) 5e Colloque interdisciplinaire en instrumentation (C2I), Le Mans, France, Actes publiés par Hermès-Lavoisier, Paris, France, ISBN 97827462251691-8, 26-27 janvier 2010.

HIMBERT M., “Metrology, the frontier of measurement”, International Metrology Conference CAFMET 2010, Le Caire, Egypte, 18-23 avril 2010.

HIMBERT M., « Aux frontières de la mesure », Journées X-ENS-UPS de Physique, Palaiseau, France, 10-12 mai 2010.

DEMEYER S., FISCHER N. et SAPORTA G., « Approche bayésienne des modèles à équations structurelles », JDS'2010, 42es Journées de Statistique, Marseille, France, 24-28 mai 2010.

HIMBERT M., « Le laser à tout faire », Exposition CNRS – Musée des arts et métiers, Paris, France, 8 juin 2010.

HIMBERT M., “The frontier of measurement”, C-Nano-IdF School, Le Tremblay sur Mauldre, France, 20-25 juin 2010.

DEMEYER S. et FISCHER N., “Bayesian approach to assign consensus values in PT comparisons”, 255e séminaire du PTB “Emerging Topics in Mathematics for Metrology - From Measurement Uncertainty to Metrology of Complex Systems (MATHMET2010)”, Berlin, Allemagne, 21-22 juin 2010.

FISCHER N. et ALLARD A., “Statistical tools to perform sensitivity Analysis in the context of the evaluation of measurement uncertainty”, 255e séminaire du PTB “Emerging Topics in Mathematics for Metrology - From measurement uncertainty to metrology of complex systems (MATHMET2010)”, Berlin, Allemagne, 21-22 juin 2010.

ALLARD A., FISCHER N. et DIDIEUX F., “Sensitivity analysis associated with the evaluation of measurement uncertainty: application to a computational code in metrology”, Sensitivity Analysis of Model Output (SAMO), Milan, Italie, 19-22 juillet 2010.

DEMEYER S., « Approche bayésienne des modèles à équations structurelles utilisant l’expansion paramétrique », Club de rencontre AppliBugs, AgroParisTech, Paris, France, 26 novembre 2010.

HIMBERT M., “SI units and fundamental physics”, 3rd Workshop on Precision physics and fundamental physics constants, Saint Pétersbourg, Russie, 7-10 déc. 2010.