Les axes de recherche

L’engouement observé autour des nanotechnologies depuis une dizaine d’années doit faire face aujourd’hui à différentes problématiques, aussi bien techniques que sociétales. L’ensemble des acteurs impliqués dans ce domaine émergent s’accorde néanmoins sur le fait que le développement d’une métrologie et d’une instrumentation adaptée au domaine nanométrique (1 nm – 100 nm) aurait un effet « catalyseur » sur le développement global des nanotechnologies.

La métrologie des grands volumes (LVM) est un point critique dans de nombreuses industries à forte valeur ajoutée où l'UE est compétitive à l'échelle mondiale (aéronautique, automobile, génie civil, énergie et production d'électricité). Le but ultime pour de nombreux utilisateurs finaux LVM est un équivalent intérieur du GNSS.

Garantir l’intégrité de pièces critiques de type lattices ou encore avec des cavités ou canaux internes, réalisées en fabrication additive (FA), se révèle particulièrement problématique du fait de la complexité de leur géométrie.

Les trente dernières années ont permis d’assister au développement et à l’utilisation de nanomatériaux, notamment en micro-électronique. En effet, l’industrie souhaite tirer parti des propriétés remarquables des nanomatériaux, dont le comportement peut être très différent du matériau massif de même composition chimique et de même structure cristallographique.