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Développement de la plate-forme CARMEN

L’engouement observé autour des nanotechnologies depuis une dizaine d’années doit faire face aujourd’hui à différentes problématiques, aussi bien techniques que sociétales. L’ensemble des acteurs impliqués dans ce domaine émergent s’accorde néanmoins sur le fait que le développement d’une métrologie et d’une instrumentation adaptée au domaine nanométrique (1 nm – 100 nm) aurait un effet « catalyseur » sur le développement global des nanotechnologies.

Large-scale dimensional metrology for geodesy

Les référentiels géodésiques constituent l’épine dorsale de tous les services de géo-référencement, ainsi que des observations les plus critiques de la Terre, telles que la hauteur du niveau de la mer et la surveillance des volcans ou des tremblements de terre. Celles-ci nécessitent une incertitude de 1 mm du repère géodésique de référence, ce qui est nettement inférieur à la capacité actuelle de 5 à 8 mm.