Liste des références des publications et communications du RNMF parues en 2017 dans le domaine « Électricité-Magnétisme »

Publications

AHMAD S., CHARLES M., ALLAL D., NEGI P.S. and OJHA V.N., “Realization of 2.4mm coaxial microcalorimeter system as national standard of microwave power from 1 MHz to 50 GHz”, Measurement, 2018, 116, 106-113, online : 28 October 2017, DOI: 10.1016/j.measurement.2017.10.063.

DJOKIĆ B., GHOHROODI-GHAMSARI B., PIQUEMAL F. and ALLAL D., “Guest Editorial Special Section on the Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016)”, IEEE Trans. Instr. Meas., Special Issue CPEM 2016, 2017, 66, 6, DOI: 10.1109/TIM.2017.2695678.

KHAN M.S., SÉRON O., THUILLIER G., THÉVENOT O., GOURNAY P. and PIQUEMAL F., “Development of a programmable standard of ultra-low capacitance values”, Rev Sci Instrum., 2017, 88, 5, 055109, DOI: 10.1063/1.4983337.

LOUARN K., CLAVEAU Y., HAPIUK D., FONTAINE C., ARNOULT A., TALIERCIO T., LICITRA C., PIQUEMAL F., BOUNOUH A., CAVASSILAS N. and ALMUNEAU G., “Multiband corrections for the semi-classical simulation of interband tunneling in GaAs tunnel junctions”, Journal of Physics D: Applied Physics, 2017, 50, 38, 385109, DOI: 10.1088/1361-6463/aa804e.

PIQUEMAL F., JECKELMANN B., CALLEGARO L., HALLSTROM J., JANSSEN J.T., MELCHER J., RIETVELD G., WRIGHT P., ZEIER M. and ZIEGNER U., “Metrology in Electricity and Magnetism: EURAMET activities today and tomorrow”, Metrologia, 2017, 54, 5, R1–R24, DOI: 10.1088/1681-7575/aa7cae.

SCHURR J., FLETCHER N., GOURNAY P., THÉVENOT O., OVERNEY F., JOHNSON L., XIE R. and DIERIKX E., “Final report of the supplementary comparison EURAMET.EM-S31 comparison of capacitance and capacitance ratio”, Metrologia, 2017, 54, Tech. Supp., DOI: 10.1088/0026-1394/54/1A/01016.

 

Communications

CHARLES M., « Caractérisation de la forme d’onde de signaux dynamiques ultra-rapides (>100 GHz) par échantillonnage électro-optique », Plénière du Groupe thématique Télécom, Université Paris-Est de Créteil, France, 23 janvier 2017.

BUCHTER A. et al., “Scanning Microwave Microscopy applied to dopant density extraction”, German Physical Society Spring Meeting 2017, Dresden, Germany, March 19-24, 2017.

PHAM BUI T.D., ALLAL D., ZIADÉ F. and BERGEAULT E., “Calibration standards for on-wafer mixed-mode S-parameter measurement”, Keysight European Metrology Workshop, Prague, Czech Republic, 6-7 avril 2017.

PHAM BUI T.D., ALLAL D., ZIADÉ F. and BERGEAULT E., « Conception d’étalons coplanaires couplées pour la méthode d’étalonnage Multimode TRL », XXes Journées Nationales Micro-ondes, Saint-Malo, France, 16-19 mai 2017.

BUCHTER A. et al. “EMRP-SolCell: Scanning Microwave Microscopy applied to semiconducting GaAs structures”, 2017 Spring Meeting (e-MRS), Strasbourg, France, May 22-26, 2017.

ALLAL D., « Métrologie dans le domaine THz Etalons et méthodes de référence », Journée-pilote sur les applications industrielles des nanotechnologies du THz et MIR du GDR Nanoteramir, Campus Gérard-Mégie du CNRS, Paris, France, 10 juillet 2017.

AMARIPADATH D., ROCHE R., JOSEPH-AUGUSTE L., ISTRATE D., NDILIMABAKA H., BRAUN J-P. and GAO F., “Power quality disturbances on smart grids: overview and real grid measurements”, 52nd International Universities Power Engineering Conference (UPEC 2017), Heraklion, Greece, August 28-31, 2017.

ELG A-P., LINDGREN M., HEDEKVIST P.O., EBENHAG S.C., HÄLLSTRÖM J., ISTRATE D., KIIVERI P., NIEWCZAS P. and FUSIEK G., “A Metrology grade fibre optical current sensor”, 20th International Symposium on High Voltage Engineering (ISH 2017), Buenos Aires, Argentina, August 28 – September 1, 2017.

ALLAL D. and LITWIN A., “Establishing of traceability for waveguide S parameter measurements at LNE”, 18th International Metrology Congress (CIM 2017), Paris, France, 19-21 septembre 2017.

ALLAL D., DELVALLÉE A., KHAN M.S. and PIQUEMAL F, “Low frequency and radiofrequency electrical metrology applied to 3D stacked circuits”, 18th International Metrology Congress (CIM 2017), Paris, France, 19-21 septembre 2017.

CHARLES M., « Propriétés électromagnétiques matériaux par la mesure des paramètres S sur ligne de transmission », 18th International Metrology Congress (CIM 2017), Paris, France, 19-21 septembre 2017.

DELVALLÉE A., KHAN M.S., ALLAL D. and PIQUEMAL F., Electrical characterization of multi-junction solar cells by scanning probe microscopy (SMM and Rrsiscope)”, 18th International Metrology Congress (CIM 2017), Paris, France, 19-21 septembre 2017.

PHAM BUI T.D., ALLAL D., ZIADÉ F. and BERGEAULT E., “Designing coupled coplanar waveguide standards for on-wafer mixed-mode S-parameter measurement”, 18th International Metrology Congress (CIM 2017), Paris, France, 19-21 septembre 2017.

LOUARN K.et al., “Pseudomorphic and Metamorphic (Al)GaAsSb/(Al)InGaAs Tunnel Junctions for GaAs Based Multi-Junction Solar Cells”, European photovoltaic solar energy conference and exhibition (EU PVSEC), Amsterdam, Pays-Bas, Septembre 2017.

ARNOULT A. et al. « Nouvelles techniques instrumentales liées à l’épitaxie et nouveaux systèmes », Conférence plénière du GDR PULSE, Paris, France, 2-5 octobre 2017.

LOUARN K. et al., « Jonctions tunnel AlGaAsSb/AlGaInAs accordées et relaxées sur substrat GaAs pour les applications photovoltaïques », Conférence plénière du GDR PULSE, Paris, France, 2-5 octobre 2017.

OUAMEUR M., ZIADÉ F. and LE BIHAN Y., “Design and Modelling of a 10 A Current Shunt for Measurements  up to 1 MHz”, Contact Persons EURAMET TC-EM Meeting, Caparica, Portugal, 3-4 octobre 2017.

DELVALLÉE A., KHAN M.S., MORÁN-MEZA J., LOUARN K., ALLAL D. and PIQUEMAL F., Electrical characterization of multi-junction solar cells by scanning probe microscopy (SMM and Resiscope)”, Contact Persons EURAMET TC-EM Meeting, Caparica, Portugal, 3-4 octobre 2017.

BRUN-PICARD J., DAGHER R., MICHON A., JOUAULT B., MAILLY D., POIRIER W. and SCHOPFER F., “Exploring the electron transport in quantum Hall devices based on graphene grown by CVD on SiC to improve the electrical resistance standard”, Colloque annuel du GDR Graphene & Co, Aussois, France, 15-19 octobre 2017.

BRUN-PICARD J., DJORDJEVIC S., POIRIER W. and SCHOPFER F., Towards a quantum electrical SI multimeter”, Réunion de lancement du DIM SIRTEQ, IOGS Palaiseau, France, 20 octobre 2017.

MORAN J., DELVALLÉE A., KHAN M.S. et PIQUEMAL F., « Etude de TSV (through silicon via) par microscopie champ proche à sonde microonde », 7es rencontres annuelles du club nanoMétrologie, Lyon, France, 5 décembre 2017.

KHAN M.S., DELVALLÉE A., LOUARN K., MORAN J., ALLAL D., ARNOULT A., ALMUNEAU G., PIQUEMAL F., « Caractérisation des propriétés électriques de matériaux III-V par microscopie à sonde microonde (SMM) pour les cellules solaires multi-jonction », Journées Nationales du Photovoltaïque (JNPV 2017), Dourdan, France, 5-8 décembre 2017.

LOUARN K., FONTAINE C., ARNOULT A., CLAVEAU Y., MARIGO LOMBART L., MASSIOT I., COLIN J., CORNILLE C., CAVASSILAS N., PIQUEMAL F., BOUNOUH A. et ALMUNEAU G., « Tampon graduel et jonction tunnel de type II relaxés sur GaAs pour sous cellules solaires métamorphiques à 1 eV », Journées Nationales du Photovoltaïque (JNPV 2017), Dourdan, France, 5-8 décembre 2017.

LOUARN K., CLAVEAU Y., FONTAINE C., ARNOULT A., PIQUEMAL F., BOUNOUH A., CAVASSILAS N. et ALMUNEAU G., « Modélisation semi classique du courant tunnel interbandes dans les jonctions tunnel GaAs », Journées Nationales du Photovoltaïque (JNPV 2017), Dourdan, France, 5-8 décembre 2017.

MASSIOT I., LOUARN K., FONTAINE C., AZAIZIA S., ARNOULT A., CORNILLE C., COLIN J., BOUNOUH A., BALOCCHI A., CARRÈRE H., PIQUEMAL F. et ALMUNEAU G., « Comparaison d'absorbeurs à 1 eV à base de nitrure dilué accordés en maille sur GaAs: GaInAsN, GaAsSbN et GaInAsN(Bi) », Journées Nationales du Photovoltaïque (JNPV 2017), Dourdan, France, 5-8 décembre 2017.