Les axes de recherche

Garantir l’intégrité de pièces critiques de type lattices ou encore avec des cavités ou canaux internes, réalisées en fabrication additive (FA), se révèle particulièrement problématique du fait de la complexité de leur géométrie.

La métrologie des grand volume (LVM) est nécessaire lorsque le ou les éléments à mesurer ou à aligner sont trop volumineux pour tenir dans des machines de mesure conventionnelles ou trop volumineux pour être transportés vers un laboratoire d'étalonnage - ils doivent être mesurés in situ, souvent dans des environnements non coopératifs.

Les trente dernières années ont permis d’assister au développement et à l’utilisation de nanomatériaux, notamment en micro-électronique. En effet, l’industrie souhaite tirer parti des propriétés remarquables des nanomatériaux, dont le comportement peut être très différent du matériau massif de même composition chimique et de même structure cristallographique.